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分析过程中,若加入的试剂含有少量被测离子,所引入的误差应属于( )

A.仪器误差
B.试剂误差
C.随机误差
D.方法误差
E.操作误差

参考答案

参考解析
解析:
更多 “分析过程中,若加入的试剂含有少量被测离子,所引入的误差应属于( )A.仪器误差 B.试剂误差 C.随机误差 D.方法误差 E.操作误差” 相关考题
考题 若试剂中含有微量被测组分,对测定结果将产生 :() A.过失误差;B.系统误差;C.仪器误差;D.偶然误差

考题 若试剂中含有微量被测组分,他对测定结果将产生()。 A、过失误差B、系统误差C、仪器误差D、偶然误差

考题 下列误差属于偶然误差的是()。 A、砝码稍有腐蚀B、试剂中含有少量的杂质量C、滴定管读数有很小的误差D、蒸馏水中含有少量的杂质

考题 分析测定中出现的下列情况,何种属于偶然误差( )。A.滴定时所加试剂中含有微量的被测物质B.滴定管读取的数偏高或偏低C.所用试剂含干扰离子D.室温升高

考题 下列情况造成何种误差:分析天平零点略有变动为( )误差;分析试剂中含有微量待测组分为( )误差。

考题 分析过程中,由于温度的变化所引入的误差应属于( )A.偶然误差 B.方法误差 C.试剂误差 D.仪器误差 E.系统误差

考题 试剂中含有微量被测组分所引起的误差属()。A、公差B、随机误差C、系统误差D、绝对偏差

考题 试剂中含有微量被测组份所引起的误差属于()。A、偶然误差B、相对偏差C、系统误差D、绝对误差

考题 试剂中含有微量被测组分,未经抵消校正所引起的误差是()A、偶然误差B、系统误差C、过失误差

考题 试剂中含有微量被测组分,未经抵消校正所引起误差是()A、偶然误差B、系统误差C、过失误差

考题 若试剂中含有被测微量组分则会引起偶然误差。

考题 试剂中含有微量被测组分,未做空白校正所引起的误差是()A、偶然误差B、系统误差C、绝对误差

考题 在进行超纯物质分析时,应当用()试剂处理试样,若用一般分析试剂,就可能引入含有数十倍甚至数百倍的被测组分。

考题 分析测定中出现的下列情况,何种属于偶然误差()。A、滴定是所加试剂中含有微量的被测物质B、滴定管读取的数偏高或偏低C、所用试剂含有干扰离子D、室温升高

考题 测定时,若所用辅助试剂中含有少量待测组分时,将导致偶然误差。

考题 在进行超纯物质分析时,应当用()试剂处理试样若用一般分析试剂,则可能引入含有数十倍甚至数百倍的被测组分.

考题 试剂中含有杂质所造成的分析误差称为()

考题 滴定分析中,若试剂含少量待测组分,可用于消除误差的方法是()。A、仪器校正B、空白试验C、对照分析D、多测几组

考题 下列情况引起随机误差的是()A、试剂中含有少量被测离子B、读取滴定管读数时,最后一位数字估计不准C、砝码锈蚀D、移液管、容量瓶相对体积没有进行校准

考题 下列测定中产生的误差,()属于偶然误差。A、过滤时使用了定性滤纸,最后灰分加大B、滴定管读数时,最后一位估计不准C、试剂中含有少量的被测组分D、滴定分析中,反应进行不完全。

考题 在直接电位法中,若i,j均为一价离子,Ki,j=0.05,干扰离子的浓度为0.10mol.L-1,被测离子的浓度为0.20mol.L-1,测量i离子时所引入的相对误差为()A、1.5%B、2.5%C、3.5%D、4.5%

考题 若试剂中含有微量被测组分,对测定结果将产生()A、过失误差;B、系统误差;C、仪器误差;D、偶然误差

考题 滴定分析中,若试剂含少量待测组分,可用于消除误差的方法是().A、仪器校正B、空白试验C、对照分析

考题 单选题分析检验中可能产生偶然误差的是()。A 过滤时使用了定性滤纸B 试剂中含有少量的被测组分C 用单标线吸管转移溶液时管端残留量稍有不同

考题 单选题下列情况引起随机误差的是()A 试剂中含有少量被测离子B 读取滴定管读数时,最后一位数字估计不准C 砝码锈蚀D 移液管、容量瓶相对体积没有进行校准

考题 单选题下列测定中产生的误差,()属于偶然误差。A 过滤时使用了定性滤纸,最后灰分加大B 滴定管读数时,最后一位估计不准C 试剂中含有少量的被测组分D 滴定分析中,反应进行不完全。

考题 单选题若试剂中含有微量被测组分,对测定结果将产生()A 过失误差;B 系统误差;C 仪器误差;D 偶然误差