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可以用来表示X线质的是

A.管电流

B.毫安秒

C.半价层

D.滤过板

E.衰减系数


参考答案

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考题 关于X射线“质”的叙述,正确的是A.X射线波长越短X射线“质”越软B.X射线波长是由管电流确定C.半价层值大的X射线“质”软D.X射线“质”可用半价层HVL表示E.摄影用X射线波长范围在(0.31-0.6)×10-8cm

考题 影响X线发生效率最大的是A.管电压B.管电流C.灯丝温度D.滤过板厚度E.阳极靶面温度

考题 X线摄影中表示X线“质”的是A.半价层B.靶物质C.kYD.mAsE.整流波形

考题 关于X线治疗机滤过板的使用,正确的是:()。A、产生的X线可以不经滤过板直接治疗患者B、采用滤过板,保留高能X线并使其较原射线平均能量低C、不同的管电压选择不同的滤过板D、同一管电压,滤过板不同所得的X线半价层相同E、使用复合滤过板时,从射线窗向外,先放原子序数低的,后放原子序数高的

考题 与X线质无关的是A.管电压B.X线量C.X线光子能量D.对物质的穿透力E.半价层厚度

考题 与产生X线的质无关的是A.管电压B.管电流C.滤过板D.靶物质E.高压波形

考题 与X线的产生效率有关系的因素是A.管电流B.灯丝温度C.管电压D.靶物质的原子序数E.滤过板厚度

考题 关于半价层的叙述,正确的是A.同束X线,不同物质的半价层相同B.反映X线束的穿透能力C.半价层缩写是HUD.半价层值大的X线质软E.半价层值小的X线质硬

考题 与影响X线质的因素无关的是A.管电压峰值B.管电压波形C.管电流值D.X线管的固有滤过E.附加滤过

考题 与X线谱的最大光子能量有关的是A.管电压B.管电流C.滤过板D.靶物质E.高压波形

考题 用来表示X线滤过当量的金属是A.铅B.铝C.铜D.锡E.钼

考题 X线质的表示方法主要有A.半值层B.管电压C.管电流D.管电流量E.阳极靶面物质原子序数

考题 X线的波长长短与下列有关的量是A.管电流B.灯丝加热电压C.电源电压D.毫安秒E.管电压

考题 关于半价层的叙述,正确的是A.同束X线,不同物质的半价层相同B.反映X线束的穿透能力SX 关于半价层的叙述,正确的是A.同束X线,不同物质的半价层相同B.反映X线束的穿透能力C.半价层缩写是HUD.半价层值大的X线质软E.半价层值小的X线质硬

考题 关于X线质的叙述,正确的是A.X线波长越短X线质越软B.X线波长是由管电流确定C.半价层值大的X线质软D.X线质可用半价层HVL表示E.摄影用X线波长范围在(0.31~0.6)×10—8cm

考题 X线质的表示方法主要有A.半值层B.管电压C.管电流D.管电流量 X线质的表示方法主要有A.半值层B.管电压C.管电流D.管电流量E.阳极靶面物质原子序数

考题 下列组合中,错误的是A.X线能量--keV B.半价层--mm C.管电压--kVp D.线衰减系数-cm E.质量衰减系数--g

考题 X机产生的X线的质与()有关。A、管电压B、管电流C、焦距D、毫安·秒

考题 关于X线机半价层的测量不正确的是()A、改变附加滤过板,应重测半价层B、X线机安装时必须测量半价层C、X线机大修后必须测量半价层D、更换X线管球时应重测量半价层E、只有更换X线机时,才需测量半价层

考题 X线机的半价层测量中,下列哪些做法不正确( )A、改变附加的滤过板,应重测半价层B、X线球管使用太长,应复测半价层C、X线机安装时,必须测半价层D、更换X线球管,应重测半价层E、只有更新X线机,才需测量半价层

考题 连续x射线曲线质可用()表示。A、衰减系数B、半价层C、有效能ED、以上均可

考题 X线质的表示方法主要有()A、半价层B、管电压C、管电流D、管电流量E、阳极靶面物质原子序数

考题 单选题可以用来表示X线质的是(  )。A 管电流B 毫安秒C 半价层D 滤过板E 衰减系数

考题 单选题关于X线质的表示方法,不正确的是(  )。A 半价层(HVL)B 管电流C 有效能量D 软射线和硬射线E X线波谱分布

考题 单选题X线机的半价层测量中,下列哪些做法不正确( )A 改变附加的滤过板,应重测半价层B X线球管使用太长,应复测半价层C X线机安装时,必须测半价层D 更换X线球管,应重测半价层E 只有更新X线机,才需测量半价层

考题 多选题X线质的表示方法主要有()A半价层B管电压C管电流D管电流量E阳极靶面物质原子序数

考题 单选题关于X线机半价层的测量不正确的是?()A 改变附加滤过板,应重测半价层B X线机安装时必须测量半价层C X线机大修后必须测量半价层D 更换X线管球时应重测量半价层E 只有更换X线机时,才需测量半价层