考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
（哈科）THDS-C系统光子曲线的完整性决定了光子探头温度采集的准确性，每条曲线长度为32个点。
考题
THDS-C探测站中，如果出现探头噪声大，经左右互换，故障不移动，则可能的故障点有（）。A、探头B、探头电缆C、前放板D、A/D卡E、I/O卡
考题
THDS-C探测站的室内设备探测站机柜中包括电源箱、探头箱、工控机主机、无线发射机、车号智能跟踪装置等。
考题
THDS-C探测站的加热控制板加的加热保护温度为（）。A、100℃±5℃B、110℃±5℃C、120℃±5℃D、130℃±5℃
考题
THDS-C探头温控板是控制碲镉汞元件温度的电路板，具有3种调整制冷方式。
考题
（哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-C探测站的加热控制板加的加热保护温度为+120℃±5℃。
考题
THDS-C探测站中，标准配置的探头的探测方式有（）。A、平探B、内探C、外探D、上探E、双外探
考题
THDS-C探测站中，下列哪些温度是可以通过探头采集回来准确的温度数值（）。A、环温+10000℃B、环温+1000℃C、环温+50℃D、环温+10℃E、环温-10℃
考题
THDS-C探测站标准配置下一个探测站有几个探头（）。A、1B、2C、3D、4
考题
（哈科）THDS-C系统，热靶标定数据中，探头输出电压值随着热靶温度的升高而降低。
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A、环温B、热靶温度C、探头内部温度D、以上都不对
考题
THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。
考题
THDS-C探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-C探测站内探探头水平夹角描述正确的是（）。A、0°B、2°C、4°D、6°
考题
THDS-C探测站造成探头温度输出偏低的原因可能的是（）。A、探头镜片破碎B、探头视场有遮挡C、热靶表面太脏D、探头响应率太低E、探头响应率太高
考题
判断题（哈科）THDS-C系统，热靶标定数据中，探头输出电压值随着热靶温度的升高而降低。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A
对B
错
考题
判断题THDS-C探测站中制冷控制板是控制碲镉汞元件温度的电路板，具有3种调整制冷方式。A
对B
错
考题
判断题THDS-C探测站的加热控制板加的加热保护温度为+120℃±5℃。A
对B
错
考题
判断题THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。A
对B
错
考题
多选题THDS-C探测站造成探头温度输出偏低的原因可能的是（）。A探头镜片破碎B探头视场有遮挡C热靶表面太脏D探头响应率太低E探头响应率太高
考题
多选题THDS-C探测站中，标准配置的探头的探测方式有（）。A平探B内探C外探D上探E双外探
考题
单选题THDS-C探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
判断题（哈科）THDS-C系统光子曲线的完整性决定了光子探头温度采集的准确性，每条曲线长度为32个点。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温
考题
多选题THDS-C探测站中，下列哪些温度是可以通过探头采集回来准确的温度数值（）。A环温+10000℃B环温+1000℃C环温+50℃D环温+10℃E环温-10℃