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THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。


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考题 (康拓)THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的()控制的。A、测温板B、功放板C、调理板D、温控板

考题 (哈科)THDS-C系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。

考题 (哈科)THDS-C系统,光子探头的制冷电流最大值为0.95A,制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。

考题 THDS-C探测站的加热控制板加的加热保护温度为()。A、100℃±5℃B、110℃±5℃C、120℃±5℃D、130℃±5℃

考题 THDS-C探测站控制板的作用是用于()的驱动。A、探头校零B、保护门电机C、热靶电机D、热靶加热E、制冷电流调整

考题 (康拓)THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。

考题 THDS-C探头温控板是控制碲镉汞元件温度的电路板,具有3种调整制冷方式。

考题 (哈科)THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-C探测站的加热控制板加的加热保护温度为+120℃±5℃。

考题 THDS-C探测站中,标准配置的探头的探测方式有()。A、平探B、内探C、外探D、上探E、双外探

考题 THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-C探测站,光子探头的红外器件的工作特性是()。A、真空充氮密封B、采用双浸热敏元件C、三级半导体制冷D、二级半导制冷E、一级半导制冷

考题 (哈科)THDS-C系统制冷控制板的制冷控制路数:2路,每路控制1个光子探头。

考题 THDS-C探测站的轴温传感器包括()。A、热敏探头和交流探头B、光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错

考题 多选题THDS-C探测站,光子探头的红外器件的工作特性是()。A真空充氮密封B采用双浸热敏元件C三级半导体制冷D二级半导制冷E一级半导制冷

考题 判断题(哈科)THDS-C系统,光子探头的制冷电流最大值为0.95A,制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。A 对B 错

考题 判断题THDS-C探头温控板是控制碲镉汞元件温度的电路板,具有3种调整制冷方式。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-C系统制冷控制板的制冷控制路数:2路,每路控制1个光子探头。A 对B 错

考题 判断题THDS-C探测站中制冷控制板是控制碲镉汞元件温度的电路板,具有3种调整制冷方式。A 对B 错

考题 判断题THDS-C探测站的加热控制板加的加热保护温度为+120℃±5℃。A 对B 错

考题 判断题THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。A 对B 错

考题 多选题THDS-C探测站中,标准配置的探头的探测方式有()。A平探B内探C外探D上探E双外探

考题 单选题THDS-C探测站的轴温传感器包括()。A 热敏探头和交流探头B 光子探头C 直流探头和交流探头D 光子探头和交流探头

考题 判断题(康拓)THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。A 对B 错

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