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单选题
控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方？（）
A

窗口、空气及地面

B

空气、试样和暗盒

C

试件前面、边缘和背面

D

试样、铅板和墙壁

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考题 在试样周围放置铅板的目的是()。 A、防止试样移位B、增加被测对象的对比度C、减少试样非曝光区域的散射线影响D、产生较短波长的X射线辐射
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考题 在X射线照相时,在胶片暗盒的背面安置一块铅板,这块铅板与胶片应尽量紧贴,其目的是()。 A、作为增感屏B、防止胶片受来自背面散射线的影响C、A和B都是D、支撑零件不使胶片弯曲
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考题 控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方?() A、窗口、空气及地面B、空气、试样和暗盒C、试件前面、边缘和背面D、试样、铅板和墙壁
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考题 观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，它很可能是由于（）的原因造成的A、底片高度曝光B、X射线强度太高C、工件底部未加工D、背面散射
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考题 射线探伤中屏蔽散射线的方法是（）A、铅箔增感屏和铅罩B、滤板和光阑C、暗盒底部铅板D、以上全是
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考题 观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为底片高度曝光的原因造成的。
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考题 在试样周围放置铅板的目的是产生较短波长的X射线辐射。
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考题 在X射线机窗口前装滤光片的目的是吸收软X射线、增大宽容度和减少散射线对底片的影响。
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考题 观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为X射线强度太高的原因造成的。
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考题 控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方（）A、窗口B、试件前面C、试件边缘D、试件背面
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考题 RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应（）A、缩小射线至底片的距离，且将底片紧贴试件B、增加射线至底片的距离，且将底片紧贴试件C、缩小射线至底片的距离，且将底片远离试件D、增加射线至底片的距离，且将底片远离试件
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考题 为了防止过多的背散射对胶片作用，应在（）。A、零件与胶片之间放一块铅板B、暗盒背面放一定厚度的铅板C、射线机窗口处放一块滤板D、零件表面放一块铅板
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考题 射线源尺寸、试样厚度和射线源到试样的距离确定后，也就确定了下述什么参数？（）A、底片上的密度B、胶片的实际尺寸C、底片上的不清晰度D、底片上的对比度
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考题 曝光过程中，试样或胶片偶然移动或使用焦距变小（）。A、产生射线照相底片对比度低B、不可能检出大缺陷C、产生射线照相底片不清晰D、产生发灰的射线照片
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考题 射线照相时，在暗盒背放置铅板的原因是（）A、 阻挡背面散射线B、 铅有增感作用C、 支承暗盒D、 A和B
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考题 射线照相时，在暗盒背放置铅板的原因是阻挡背面散射线。
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考题 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采用的措施是铅板遮盖工件非透照部分。
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考题 射线照相时，在暗盒背面放置铅板的原因是（）。
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考题 单选题观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，它很可能是由于（）的原因造成的A 底片高度曝光B X射线强度太高C 工件底部未加工D 背面散射
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考题 单选题射线源尺寸、试样厚度和射线源到试样的距离确定后，也就确定了下述什么参数？（）A 底片上的密度B 胶片的实际尺寸C 底片上的不清晰度D 底片上的对比度
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考题 单选题为了防止过多的背散射对胶片作用，应在（）。A 零件与胶片之间放一块铅板B 暗盒背面放一定厚度的铅板C 射线机窗口处放一块滤板D 零件表面放一块铅板
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考题 单选题在试样周围放置铅板的目的是（）A 防止试样移位B 增加被测对象的对比度C 减少试样非曝光区域的散射线影响D 产生较短波长的X射线辐射
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考题 单选题RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应（）A 缩小射线至底片的距离，且将底片紧贴试件B 增加射线至底片的距离，且将底片紧贴试件C 缩小射线至底片的距离，且将底片远离试件D 增加射线至底片的距离，且将底片远离试件
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考题 单选题在X射线照相时，在胶片暗盒的背面安置一块铅板，这块铅板与胶片应尽量紧贴，其目的是（）A 作为增感屏B 防止胶片受来自背面散射线的影响C a和b都是D 支撑零件不使胶片弯曲
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考题 单选题射线探伤中屏蔽散射线的方法是（）A 铅箔增感屏和铅罩B 滤板和光阑C 暗盒底部铅板D 以上全是
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考题 单选题射线照相时，在暗盒背放置铅板的原因是（）。A 阻挡背面散射线B 铅有增感作用C 支承暗盒D A和B
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考题 多选题控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方（）A窗口B试件前面C试件边缘D试件背面
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