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对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）
- A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况
- B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况
- C、常用的检测方法有RMS的测量
- D、常用的检测方法有维纳频谱的测量
- E、MTF用米测量颗粒度
参考答案
更多 “对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C、常用的检测方法有RMS的测量D、常用的检测方法有维纳频谱的测量E、MTF用米测量颗粒度” 相关考题
考题
关于X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度
考题
所谓X线照片噪声,是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合SX
所谓X线照片噪声，是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合D.X线照片斑点E.X线照片的颗粒度
考题
对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C、常用的检测方法有RMS的测量D、常用的检测方法有维纳频谱的测量E、MTF用米测量颗粒度
考题
关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是A．物理测定值为颗粒度B．X线量了斑点影响照片颗粒性C．X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D．增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E．量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录
考题
对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A．主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B．客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C．常用的检测方法有RMS的测量D．常用的检测方法有维纳频谱的测量E．MTF用来测量颗粒度
考题
关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是A．物理测定值为颗粒度B．X线量子斑点影响照片颗粒性C．X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D．增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E．量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录
考题
关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是A.物理测定值为颗粒度B.X线量子斑点影响照片颗粒性C.X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片E记录
考题
关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是（）A、胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一B、胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性C、表示颗粒性的量度值为颗粒度D、颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高E、颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关
考题
关于照片影像质量客观评价的叙述，错误的是（）。A、以物理量进行的评价为客观评价B、可通过特性曲线进行测试C、MTF是评价像质的好方法D、WS是调制传递函数的缩写E、RMS是照片颗粒度均方根值的缩写
考题
对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）A、主观性颗粒质量--肉眼观察获得的颗粒状况B、客观性颗粒质量--物理学检查的颗粒状况C、常用的检测方法有RMS的测量D、常用的检测方法有维纳频谱的测量E、MTF用来测量颗粒度
考题
关于X线照片颗粒度的叙述，正确的是（）.A、照片图像粗糙或砂砾状效果称为颗粒性B、物理测定值为颗粒度C、照片上一定区域内大量集中的不规则的颗粒为斑点D、量子斑点是X线量子的统计涨落的记录E、以上全是
考题
单选题对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（ ）。A
主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B
客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C
常用的检测方法有RMS的测量D
常用的检测方法有维纳频谱的测量E
MTF用来测量颗粒度
考题
单选题对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）A
主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B
客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C
常用的检测方法有RMS的测量D
常用的检测方法有维纳频谱的测量E
MTF用米测量颗粒度
考题
单选题关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是（ ）。A
物理测定值为颗粒度B
X线量子斑点影响照片颗粒性C
X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D
增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E
量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录
考题
单选题所谓X线照片噪声，是指（ ）。A
荧光体颗粒B
乳剂银颗粒C
银颗粒、荧光体颗粒组合D
X线照片斑点E
X线照片的颗粒度
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