考题
在脉冲反射法探伤中判断缺陷存在的根据有（）A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、接收探头接收到的能量的增强
考题
双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
考题
在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（）A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、AB都对
考题
在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、工件材料衰减过大
考题
在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都可能造成底波消失
考题
接触法垂直探伤中，造成底波幅度降低的原因可能是（）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的缺陷；C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都是
考题
在接触法超声波纵波垂直入射探伤中，存在上盲区的主要原因是（）A、近场效应影响B、仪器的阻塞时间影响C、探头的始波占宽影响D、以上都是
考题
直探头接触法探伤时，（）要涂布耦合剂。A、探头与工件表面之间B、工件底面与空气之间C、仪器与探头之间D、以上都不对
考题
直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。A、 耦合不良B、 存在与声束不垂直的缺陷C、 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、 以上都可能
考题
与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在
考题
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
考题
由于轨底三角区横向裂纹的取向与37°探头的声束不垂直，所以37°探头不能发现该缺陷。
考题
在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、耦合太好D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
考题
在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在（）。A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱C、底波或参考回波的消失D、接收探头接收到的能量的减弱
考题
在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）A、与表面成较大角度的平面缺陷B、反射条件很差的密集缺陷C、AB都对D、AB都不对
考题
在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（）A、耦合不良B、缺陷面积大于声束截面C、存在与声束垂直的平面型缺陷D、以上都不是
考题
大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）
考题
脉冲反射法超声波探伤，对与声束轴线不垂直的缺陷，容易（）。
考题
多选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D工件材料衰减过大
考题
单选题在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（）A
耦合不良B
缺陷面积大于声束截面C
存在与声束垂直的平面型缺陷D
以上都不是
考题
多选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C耦合太好D存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
考题
多选题在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在（）。A缺陷回波B底波或参考回波的减弱C底波或参考回波的消失D接收探头接收到的能量的减弱
考题
填空题脉冲反射法超声波探伤，对与声束轴线不垂直的缺陷，容易（）。
考题
单选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（）A
耦合不良B
存在与声束不垂直的平面缺陷C
存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D
以上都是
考题
单选题在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）A
与表面成较大角度的平面缺陷B
反射条件很差的密集缺陷C
AB都对D
AB都不对
考题
单选题接触法垂直探伤中，造成底波幅度降低的原因可能是（）A
耦合不良B
存在与声束不垂直的缺陷；C
存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D
以上都是
考题
单选题在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A
耦合不良B
存在与声束不垂直的平面缺陷C
存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D
以上都可能造成底波消失