考题
在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次（）A、缺陷回波B、迟到回波C、底面回波D、侧面回波
考题
采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（）A、直探头探伤法B、脉冲反射法C、斜探头探伤法D、穿透法
考题
钢板的直探头探伤中，显示于示波屏上的缺陷回波图形可以分为三种，它们是：（）、（）、（）
考题
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
考题
斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波
考题
用K2探头探伤T=40mm的对接焊缝，仪器按深度1：1调节扫描速度，探伤中在示波屏水平刻度30处发现一缺陷回波，这个缺陷的水平距离为（）。
考题
簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直
考题
斜探头横波探伤时，缺陷声程W已知，则它的水平距离可用（）计算。斜探头横波探伤时，缺陷声程已知，则它的垂直距离由公式（）计算。
考题
探伤不锈钢零件表面缺陷最好采用（）探伤法。A、射线照相B、磁粉探伤法C、超声波直探头D、渗透探伤法E、涡流探伤法
考题
探伤仪测距按深度调节，全长为钢中横波200mm，用K2探头探测厚80m试件，在6.3格发现一缺陷，则缺陷至探头入射点水平距离是（）mm。
考题
中等厚度钢板直探头多次反射法探伤，缺陷位于（）时，缺陷回波之间会发生迭加效应。
考题
在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）A、与表面成较大角度的平面缺陷B、反射条件很差的密集缺陷C、AB都对D、AB都不对
考题
钢轨探伤仪0°探头探伤如无缺陷反射波，则探测范围内无缺陷存在。
考题
底面多次回波法探伤主要用于（）A、厚度较小的板材B、形状复杂的试件C、大厚度试件
考题
判断题用反射式探伤法探伤，缺陷越大反射回波越强。A
对B
错
考题
单选题斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A
没有底面回波B
有底面回波C
有大型缺陷回波时底面回波消失D
有大型缺陷回波时有底面回波
考题
判断题钢轨探伤仪0°探头探伤如无缺陷反射波，则探测范围内无缺陷存在。A
对B
错
考题
填空题探伤仪测距按钢中横波声程调节，全长为200mm，用K1.5探头探测厚50mm试件，在2.6格发现一缺陷，则缺陷至探头入射点水平距离是（）。
考题
单选题在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次（）A
缺陷回波B
迟到回波C
底面回波D
侧面回波
考题
填空题中等厚度钢板直探头多次反射法探伤，缺陷位于（）时，缺陷回波之间会发生迭加效应。
考题
单选题底面多次回波法探伤主要用于（）A
厚度较小的板材B
形状复杂的试件C
大厚度试件
考题
填空题用K2探头探伤T=40mm的对接焊缝，仪器按深度1：1调节扫描速度，探伤中在示波屏水平刻度30处发现一缺陷回波，这个缺陷的水平距离为（）。
考题
单选题采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度（）A
直探头探伤法B
脉冲反射法C
斜探头探伤法D
穿透法
考题
填空题大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）
考题
多选题簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A大尺寸B小尺寸C联合双直
考题
填空题探伤仪测距按深度调节，全长为钢中横波200mm，用K2探头探测厚80mm试件，在6．3格发现一缺陷，则缺陷至探头入射点水平距离是（）。