考题
用直探头检验钢锻件时,引起底波明显降低或消失的因素有()。
A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上全部
考题
在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。
考题
在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（）A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、AB都对
考题
在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都是
考题
在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都可能造成底波消失
考题
接触法垂直探伤中，造成底波幅度降低的原因可能是（）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的缺陷；C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都是
考题
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
考题
直探头接触法探伤时，（）要涂布耦合剂。A、探头与工件表面之间B、工件底面与空气之间C、仪器与探头之间D、以上都不对
考题
直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。A、 耦合不良B、 存在与声束不垂直的缺陷C、 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、 以上都可能
考题
与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在
考题
直探头从端部探测细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生（）所致。A、窄脉冲B、衰减C、波型转换D、粗晶
考题
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
考题
在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、耦合太好D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
考题
在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在（）。A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱C、底波或参考回波的消失D、接收探头接收到的能量的减弱
考题
在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）A、与表面成较大角度的平面缺陷B、反射条件很差的密集缺陷C、AB都对D、AB都不对
考题
在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（）A、耦合不良B、缺陷面积大于声束截面C、存在与声束垂直的平面型缺陷D、以上都不是
考题
脉冲反射法超声波探伤，对与声束轴线不垂直的缺陷，容易（）。
考题
在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。A、 探头接触不良B、 遇到材质衰减大的部位C、 工件底面不平或工件内部有缺陷D、 以上都对
考题
多选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D工件材料衰减过大
考题
单选题在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（）A
耦合不良B
缺陷面积大于声束截面C
存在与声束垂直的平面型缺陷D
以上都不是
考题
多选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C耦合太好D存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
考题
判断题在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。A
对B
错
考题
单选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（）A
耦合不良B
存在与声束不垂直的平面缺陷C
存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D
以上都是
考题
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A
底面与探伤面不平行B
工件内部有倾斜的大缺陷C
工件内部有材质衰减大的部位D
以上都有可能
考题
单选题接触法垂直探伤中，造成底波幅度降低的原因可能是（）A
耦合不良B
存在与声束不垂直的缺陷；C
存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D
以上都是
考题
单选题在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。A
探头接触不良B
遇到材质衰减大的部位C
工件底面不平或工件内部有缺陷D
以上都对
考题
单选题在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A
耦合不良B
存在与声束不垂直的平面缺陷C
存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D
以上都可能造成底波消失