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在光栅摄谱仪中解决200-400区间各级谱线重叠干扰的最好办法()

  • A、用滤光片
  • B、选用优质感光板
  • C、不用任何措施
  • D、调节狭缝宽度

参考答案

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考题 在光栅摄谱仪中解决200.0~400.0nm区间各级谱线重叠干扰的最好办法是 ( ) A.用滤光片B.选用优质感光板C.不用任何措施D.调节狭缝宽度

考题 光谱分析中的干扰主要包括()干扰,谱线重叠干扰及空白干扰。

考题 波长分别为λ1=450nm和λ2=750nm的单色平行光,垂直入射到光栅上,在光栅光谱中,这两种波长的谱线有重叠现象,重叠处波长为λ2谱线的级数为: A.2,3,4,5,… B.5,10,15,20,… C.2,4,6,8,… D.3,6,9,12,…

考题 某摄谱仪刚刚可以分辨310.0305nm及309.9970nm的两条谱线,则用该摄谱仪可以分辨出的谱线组是()。A、Si251.61─Zn251.58nmB、Ni337.56─Fe337.57nmC、Mn325.40─Fe325.395nmD、Cr301.82─Ce301.88nm

考题 电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。

考题 某光栅摄谱仪的理论分辨率要达到50000,至少需要用多宽的光栅(1140条/mm)?这样的光栅哪级光谱能分开501.122nm和501.130nm两条谱线?

考题 X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。

考题 ICP法进行样品测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰

考题 什么是ARL直读光谱的背景辐射和谱线重叠干扰?

考题 在光栅光谱中,下列描述正确的是()A、级次越高,各种波长谱线展得越开,谱线越宽B、级次越高,各种波长谱线展得越开,谱线越窄C、级次越高,各种波长谱线越展不开,谱线越窄D、级次越高,各种波长谱线越展不开,谱线越宽

考题 某元素的特征光谱中含有波长λ1=450nm和λ2=750nm的光谱线,在光栅光谱中,这两种波长的谱线有重叠现象,重叠处的谱线λ2主极大的级数将是()A、2,3,4,5,…B、2,5,8,11,…C、2,4,6,8,…D、3,6,9,12,…

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考题 光栅摄谱仪对于成像质量要求高,多采用()。A、平面光栅B、凹面光栅C、视光栅D、阶梯光栅

考题 应用光栅作为色散元件,在光栅光谱中,各级光谱之间有部分重叠干扰现象存在.为了消除这种干扰现象,方法有:选择()和()。

考题 ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离子干扰

考题 光栅光谱谱线的半角宽度Δθ与下列哪项无关?()A、谱线的衍射角B、光谱的级次C、光栅常数D、光栅的总缝数

考题 在衍射光栅实验中,把光栅遮掉一半,不发生的变化的是()A、强度B、条纹位置C、谱线半角宽度D、分辨本领

考题 棱镜摄谱仪是利用棱镜对不同波长光的()不同进行分光的;而光栅摄谱仪是利用光的()现象进行分光的。

考题 设某元素的特征光谱中含有波长分别为λ1=450nm和λ2=750nm的两条光谱线,当用一光栅常数(a+b)=5.00×10-6m的光栅观测其光谱时,发现这两种波长的谱线有重叠现象,在下列结果中,正确描述重叠处λ2谱线级数的是()。A、2,3,4,…B、2,5,8,…C、3,6D、3,6,9,…

考题 中子活化分析中,谱线干扰的解决办法有用不同的半衰期解决()、利用分支比扣除法、解重峰等等。

考题 单选题ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。A 光谱干扰B 化学干扰C 电离干扰

考题 填空题中子活化分析中,谱线干扰的解决办法有用不同的半衰期解决()、利用分支比扣除法、解重峰等等。

考题 填空题棱镜摄谱仪是利用棱镜对不同波长光的()不同进行分光的;而光栅摄谱仪是利用光的()现象进行分光的。

考题 单选题(2009)波长分别为λ1=450nm和λ2=750nm的单色平行光,垂直射人到光栅上,在光栅光谱中,这两种波长的谱线有重叠现象,重叠处波长为λ2谱线的级数为:()A 2,3,4,5,…B 5,10,15,20,…C 2,4,6,8,…D 3,6,9,12,…

考题 判断题电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。A 对B 错

考题 单选题光栅光谱谱线的半角宽度Δθ与下列哪项无关?()A 谱线的衍射角B 光谱的级次C 光栅常数D 光栅的总缝数

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