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用QS1型西林电桥测tgδ，消除电场干扰的方法有哪些？

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考题 电容型设备在线检测tanδ时,消除现场电场及磁场对电桥平衡影响的方法有哪些?
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考题 现场用QSl西林电桥测量设备的tgδ，当出现较大的电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tgδ值均比真实值大。( )
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考题 用QSl型西林电桥进行实际测量时，消除磁场干扰的办法有：将电桥移到磁场干扰以外;在检流计极性转换开关处于两种不同位置时，调节电桥平衡，求得每次平衡时的试品tgδ值和电容值，然后再求取两次的平均值，以消除磁场干扰的影响。( )
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考题 现场用QSI型西林电桥测量设备绝缘的tgδ，当出现较大电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tgδ值大。
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考题 采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时，若试品的电容量较小，测量中出现负值，一定是存在着电场干扰。
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考题 在相同条件下，用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时，用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。
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考题 QS1型西林电桥正接线时电桥桥臂都处于高电位。
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考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时，现场采用排除电场干扰的方法有以下几种（）A、提高试验电压B、采用正接线方法C、用电桥内部“选相”、“倒相”法接线，排除干扰源对电源相位的干扰D、在被试设备上加装屏蔽罩
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考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时，造成-tanØ值出现的原因有（）A、温度影响B、强电场干扰C、测量中接线错误D、测量有抽取电压装置的电容式套管时，套管表面脏污
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考题 试品电容量约15000pF，使用QS1型西林电桥，施加10kV测量其tgδ时，电桥分流器位置宜选定在（）档位置A、0.01B、0.025C、0.06D、0.15
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考题 现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮，当出现较大电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。
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考题 为什么用QS1型西林电桥测量小电容试品介质损耗因数时，采用正接线好？
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考题 用西林电桥测量tgδ时，若有磁场干扰，试述其消除方法？
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考题 QS1型交流电桥测量时，影响tanØ测量值因素主要有（）A、电场干扰B、温度影响C、被试设备局部绝缘缺陷的影响D、测量电压的影响
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考题 测量高压设备绝缘介质损失角正切值tg，一般使用的试验设备是（）。A、QS1型西林电桥B、欧母表C、电压表D、兆欧表
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考题 测试介质损失角正切时，QS1型西林电桥有（）种接线方式。A、二B、三C、四D、五
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考题 用QS1型西林电桥测tgδ时的操作要点具体有哪些？
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考题 测量tgδ时，为何要选择QS1电桥的分流位置？
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考题 用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。
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考题 简述5件QS1型西林电桥内部的主要元件。
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考题 当采用QS1型西林电桥，以低压电源、CN＝0.01μF进行测量时，其Cx的可测范围是300pF～1000μF。
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考题 用QS1型西林电桥测tgδ时的操作要点有哪些？
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考题 现场测试中，使用QS1电桥测tgδ%，下列设备哪些适合正接线。（）A、变压器本体B、变压器电容型套管C、耦合电容器D、CVT
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考题 判断题在相同条件下，用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时，用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。A 对B 错
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考题 判断题现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮，当出现较大电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。A 对B 错
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考题 判断题用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。A 对B 错
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考题 判断题QS1型西林电桥正接线时电桥桥臂都处于高电位。A 对B 错
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