考题
用尘埃粒子计数器对计算机机房进行尘埃测试，对粒子大于或等于()的尘粒个数，宜采用光散射粒子计数法。A、0.4μmB、0.45μmC、0.5μmD、0.6μm
考题
近距离照射放射源强度校准最好使用（）A、指型电离室B、半导体探测器C、井行电离室D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
常用场所辐射监测仪中灵敏度最高的是（）A、电离室B、正比计数器C、GM计数器D、闪烁探测器E、半导体探测器
考题
高强度辐射场中进行精确剂量测量应使用（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器
考题
灵敏度最低的是（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器
考题
以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器？（）A、封闭式正比计数器B、流气式正比计数器C、闪烁计数器D、半导体计数器
考题
正比计数器（流气式或封闭式）、（）、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。
考题
波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
考题
液体闪烁计数器和晶体闪烁计数器分别适合检测什么样的放射性线？
考题
密封放射检测源是否泄漏或被污染，通常使用的探测器是（）A、指型电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）A、指形电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
X荧光仪中探测器通常采用（）A、光电倍增管B、闪烁计数器C、正比计数器D、NaCl晶体
考题
正比计数器内充入的Ar气的主要作用是：（）。
考题
X射线法分析生铁中的锰元素，所用检测器是（）。A、闪烁计数器B、气流式正比计数器C、封闭式正比计数器
考题
X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、硅（锂）探测器
考题
在X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、半导体探测器
考题
X荧光光谱仪探测器的分辨率R=Q，Q为品质因子，当计数率＜20kcps时，闪烁计数器的Q＜（），充Ar流气正比计数器的Q＜（）。
考题
常用的X射线正比计数器分为（）和（）两大类，。
考题
流气正比计数器适用于（）和长波辐射的探测（0.1-8keV）。
考题
X-荧光波谱分析仪（品位仪）的检测器一般有（）A、正比计数器B、闪烁计数器C、光电倍增管
考题
X-荧光波谱分析仪（品位仪）的检测器一般有（）A、正比计数器B、闪烁计数器C、光电倍增管D、数码管
考题
问答题液体闪烁计数器和晶体闪烁计数器分别适合检测什么样的放射性线？
考题
单选题密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）A
指形电离室B
半导体探测器C
中子探测器D
闪烁计数器E
正比计数器
考题
问答题简要叙述半导体探测器的能量分辨率明显优于正比计数器和闪烁计数器的主要原因。
考题
单选题利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（）A
正比计数器B
盖革计数器C
闪烁计数器D
锂漂移硅检测器
考题
单选题以气体电离为基础制造的计数器是（）A
正比计数器B
盖革计数器C
闪烁计数器D
A和B