考题
变压器大修时一般不需要测量绕阻连同套管的tgδ值。()
此题为判断题(对，错)。
考题
对于35kV以上的变压器，绕组连同套管一起的介质损耗因数tanδ在20℃时应大于1.5%。
考题
测量变压器绕组连同套管的介质损耗角正切值tanδ，测试时记录好试验时的环境温度，换算至出厂相同温度比较时，其值不应大于产品出厂值的（）倍。A、1.2B、1.3C、1.4D、1.5
考题
35kV变压器出厂验收时，应测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值，并将测试温度下的介损值换算到（）℃。A、18B、20C、22D、25
考题
500kV变压器绕组连同套管的tanδ值，在20℃时测得tanδ值为（）合格。A、0.6%B、0.1%C、1.5%D、0.8%
考题
变压器套管电容芯的介质损耗因数，20℃时的介质损耗因数应不大于（）。A、0.02B、0.025C、0.03D、0.05
考题
交接试验时，当变压器电压等级为35kV及以上，且容量在（）及以上时，应测量介质损耗角正切值tgδA、1000kVAB、8000kVAC、1250kVAD、1600kVA
考题
5KV充油套管的介质损耗因素值在20℃时应不大于（）。
考题
对运行中330-500KV的油纸电容式电流互感器，第一次绕组连同套管一起的介质损耗因数tgδ在20℃时的值，规程中规定低于（）为合格。A、0.8B、1C、1.5
考题
测量非纯瓷套管的介质损耗因数tgδ和电容值时，同一绕组的套管（）。
考题
大修后35KV充油电流互感器一次绕组连同套管一起的介质损耗因数tgδ的值规定为（）。A、20℃时2B、20℃时3C、20℃时4
考题
35kv电压互感器大修后，在20℃时的介电损耗不应大于（）。A、2.5%B、3.0%C、3.5%D、4.0%
考题
220kV及以上电压等级变压器拆装套管或进人后，应进行绕组连同套管（）测试.A、绝缘电阻、介质损耗B、直流电阻C、长时感应电压带局部放电D、倍频耐压试验
考题
运行中的35KV以上的电压互感器一次绕组连同套管的介质损耗因数tgδ的值规定为（）。A、20℃时2.5B、20℃时3C、20℃3.5
考题
35KV以上的变压器绕组连同套管一起的介质损耗因素tgδ的标准为（）。A、20℃1.5B、20℃2.0C、20℃2.5
考题
运行中的35KV充油电流互感器一次绕组连同套管一起的介质损耗因数tgδ的值规定为（）。A、20℃时2B、20℃4C、20℃时6
考题
500kV变压器绕组连同套管的tanδ值，在20℃时测得tanδ值为0.8%合格。
考题
110kV～220kV变压器绕组连同套管的tanδ值，在20℃时测得tanδ值为1.5%合格。
考题
运行中110KV充油电流互感器一次绕组连同套管一起的介质损耗因数tgδ的值规定为（）。A、20℃时2B、20℃时3C、20℃4
考题
35kV电压互感器大修后，在20℃时的介质不应大于（）。A、2％；B、2．5％；C、3％；D、3．5％。
考题
变压器低电压试验验收进行介质损耗因数、电容量测量时，测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值，并将测试温度下的介损值换算到（）℃。A、10B、15C、20D、25
考题
35kv电压互感器大修后，在20t时的介电损耗不应大于（）。A、2.5％B、3.0％C、3.5％D、4.0％
考题
500kV电抗器绕组连同套管的tanδ值，在20℃时测得tanδ值不大于（）。A、0.4%B、0.5%C、0.6%D、0.8%
考题
66kV变压器被测绕组的tgδ值换算至20°时，不应大于（）。
考题
110kV～220kV变压器绕组连同套管的tanδ值在20℃时（）合格。A、0.2%B、0.5%C、0.4%D、0.8%
考题
35kV变压器绕组连同套管的tanδ值，在20℃时测得tanδ值为1.5%不合格。
考题
变压器绕组的介质损耗因数tgδ（20℃）与历年数值相比一般不大于（）%变化。A、10B、20C、30D、40