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66kV变压器被测绕组的tgδ值换算至20°时，不应大于（）。

参考答案

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考题 当变压器绕组扫频响应曲线与原始记录基本一致时，即绕组频响曲线的各个波峰、波谷点所对应的幅值及频率基本一致时，可以判定被测绕组有变形。( )
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考题 如果忽略变压器的内部损耗，则以下说法正确的有（ ）A、变压器二次绕组的输出功率等于一次绕组输入功率;B、变压器二次绕组的输出功率大于一次绕组输入功率;C、变压器一次测电压有效值等于一次测感应电势有效值;D、变压器二次测电压有效值等于二次测感应电势有效值.
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考题 测量变压器绕组连同套管的介质损耗角正切值tanδ，测试时记录好试验时的环境温度，换算至出厂相同温度比较时，其值不应大于产品出厂值的（）倍。A、1.2B、1.3C、1.4D、1.5
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考题 变压器交接试验时，被测绕组的tanδ值不宜大于产品出厂试验值的（）%。A、110B、120C、130D、140
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考题 35kV变压器出厂验收时，应测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值，并将测试温度下的介损值换算到（）℃。A、18B、20C、22D、25
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考题 当绕组频响曲线的各个（）所对应的幅值及频率基本一致时，可以判定被测变压器绕组没有变形。A、波形B、波峰点C、波谷点D、初相角
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考题 变压器绕组的tanδ值与历年的数值比较不应有显著变化（）A、一般不大于10%B、一般不大于20%C、一般不大于30%D、一般不大于50%
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考题 变压器的tgδ值与历年的数值比较不应有显著变化（一般不大于（）％）。A、10B、20C、30D、40
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考题 变压器在20℃时tgδ不大于下列数值：35～66kV（）%。A、0.8B、1C、1.5D、1.8
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考题 电流互感器预试时被测绕组的tgδ值不应大于（）。
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考题 测量变压器绕组绝缘电阻时，被测绕组各引线端应短路，其余各被试绕组都应开路。
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考题 110（66）kV-220kV变压器出厂验收时，应测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值，并将测试温度下的介损值换算到（）℃。A、18B、20C、22D、25
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考题 220kV变压器被测绕组的tanδ值不应大于产品出厂试验值的（）。
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考题 变压器低电压试验验收进行介质损耗因数、电容量测量时，测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值，并将测试温度下的介损值换算到（）℃。A、10B、15C、20D、25
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考题 电力变压器、电抗器绕组绝缘介质损耗因数测量，必要时分别测量（）的绝缘介质损耗因数。A、被测绕组本体B、被测绕组对地C、被测绕组对其它绕组D、相邻绕组
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考题 变压器绕组绝缘的tgδ时，非被试绕组应（）。A、对地绝缘B、短接C、开路D、短接后接地或屏蔽
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考题 测量变压器绕组绝缘的tgδ时，非被试绕组应（）。A、对地绝缘；B、短接；C、开路；D、短接后接地或屏蔽。
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考题 电压互感器预试时被测绕组的tgδ值不应大于（）。
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考题 绕组tgδ与原始值比较（）可能是缺陷的反映，同一变压器各绕组tgδ应基本一致。A、变大B、变大或变小都C、变小
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考题 测量10KV油浸变压器tgδ值时，非被试绕组应该（）。A、接入测量回路B、短接C、开路D、短接后接地或屏蔽
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考题 测量变压器绕组绝缘的tgδ时，非被试绕组应（）。
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考题 新装电力变压器在交接验收时，所测得的介质损tgδ值应不大于出厂试验值的130%（换算到同一温度下）。
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考题 变压器绕组的介质损耗因数tgδ（20℃）与历年数值相比一般不大于（）%变化。A、10B、20C、30D、40
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考题 填空题220kV变压器被测绕组的tanδ值不应大于产品出厂试验值的（）。
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考题 单选题变压器的tgδ值与历年的数值比较不应有显著变化（一般不大于（）％）。A 10B 20C 30D 40
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考题 单选题变压器在20℃时tgδ不大于下列数值：35～66kV（）%。A 0.8B 1C 1.5D 1.8
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考题 单选题测量变压器绕组绝缘的tgδ时，非被试绕组应（）A 对地绝缘B 短接C 开路D 短接后接地或屏蔽
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