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扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)

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考题 单选题表面形貌分析的手段包括()A X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)B SEM和透射电镜(TEM)C 波谱仪(WDS)和X射线光电子谱仪(XPS)D 扫描隧道显微镜(STM)和SEM

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考题 单选题根据电子显微镜工作方式和功能的不同,将其分为()三种。A 透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描透射电子显微镜B 透射电子显微镜、扫描电子显微镜、光学显微镜C 折射电子显微镜、透射电子显微镜、扫描电子显微镜D 折射扫描电子显微镜、透射扫描电子显微镜、扫描电子显微镜