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半导体材料的电阻变化主要来自尺寸效应。()

此题为判断题(对,错)。


参考答案

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考题 半导体的压阻效应主要取决于A.材料的几何尺寸B.材料的电阻率C.材料的温度D.材料的透光性

考题 10、半导体应变片电阻变化的原因,主要是应变片几何尺寸的变化。

考题 影响半导体应变片电阻变化的最主要原因是()A.材料电阻率的变化B.材料几何尺寸的变化C.材料化学性质的变化D.材料光学性质的变化

考题 半导体材料的应变电阻效应主要基于压阻效应

考题 (单选)下列说法错误的是A.金属材料,电阻应变效应以几何尺寸变化为主。B.半导体材料,引起电阻变化的主要原因是电阻率。C.电阻丝材料的灵敏度系数一般小于电阻应变片的灵敏度系数。D.为了减小应变测量误差,粘贴应变片的轴线方向应与主应力方向一致。

考题 3、金属丝应变片和半导体应变片工作原理不同,金属材料的应变效应以()为主,而半导体材料则以电阻率的相对变化为主。

考题 应变电阻效应是由材料的几何尺寸变化和电阻率变化组成的,半导体材 料以前者作用占主导,金属材料以后者作用为主导。

考题 半导体材料的应变效应以结构尺寸为主,金属材料的电阻变化主要基于压阻效应。

考题 半导体应变片主要是利用半导体材料的()效应制作而成的一种电阻性元件。