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试分析一下等倾干涉条纹可能是什么形状?


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考题 用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

考题 调节等倾干涉条纹时,怎样判断是否观察到了严格的等倾干涉条纹?

考题 是否所有的圆形条纹都是等倾干涉条纹?举例说明之。

考题 双缝干涉和多缝干涉的干涉条纹的区别是什么?

考题 关于牛顿环干涉条纹,下面说法正确的是:()A、是光的等倾干涉条纹;B、是光的等厚干涉条纹;C、条纹从内到外间距不变;D、条纹由内到外逐渐变疏;

考题 迈克尔干涉仪产生的是()条纹。A、等倾B、等厚C、直D、斜

考题 关于牛顿环下面说法正确的是()A、是光的等倾干涉条纹B、是光的等厚干涉条纹C、条纹从内到外逐渐变密D、条纹由内到外逐渐变疏

考题 观察迈克尔逊干涉仪的等倾圆环形条纹,当等效空气薄膜的厚度增大时,圆环形条纹()

考题 若用一张薄云母片将杨氏双缝干涉试验装置的上缝盖住,则()A、条纹上移,但干涉条纹间距不变B、条纹下移,但干涉条纹间距不变C、条纹上移,但干涉条纹间距变小D、条纹上移,但干涉条纹间距变大

考题 什么条件下迈克尔孙干涉仪产生等倾干涉?根据什么现象判断干涉条纹确实是等倾条纹?

考题 双缝干涉实验中,若增大其中一缝的宽度,干涉条纹将发生变化()A、干涉条纹位置改变B、干涉条纹间距发生改变C、干涉条纹可见度改变D、干涉条纹形状发生改变

考题 利用迈克耳孙干涉仪获得等倾干涉条纹,增大干涉条纹的间距的方法有()A、增大等效空气层的厚度hB、减小入射光的波长C、减小等效空气层的厚度hD、以上说法都不对

考题 牛顿环是光的()干涉图样,其干涉条纹从中心向外逐渐变()(填“疏”或“密”),条纹的形状是()。

考题 用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

考题 在双缝干涉实验中,用单色光自然光在屏上形成干涉条纹,若在两缝后面放一块偏振片,则()A、干涉条纹间距不变,但明条纹亮度加强B、干涉条纹间距不变,但明条纹亮度减弱C、干涉条纹间距变窄,且明条纹亮度减弱D、无干涉条纹

考题 用迈克尔逊干涉仪可测量长度的微小变化,设入射光波长为534.9nm,等倾干涉条纹中心冒出了1204条条纹,求反射镜移动的微小距离.

考题 单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A 球面干涉B 等倾干涉C 等厚干涉

考题 单选题双缝干涉实验中,若增大其中一缝的宽度,干涉条纹将发生变化()A 干涉条纹位置改变B 干涉条纹间距发生改变C 干涉条纹可见度改变D 干涉条纹形状发生改变

考题 填空题观察迈克尔逊干涉仪的等倾圆环形条纹,当等效空气薄膜的厚度增大时,圆环形条纹()

考题 问答题什么条件下迈克尔孙干涉仪产生等倾干涉?根据什么现象判断干涉条纹确实是等倾条纹?

考题 问答题双缝干涉和多缝干涉的干涉条纹的区别是什么?

考题 单选题迈克尔孙干涉仪的两块平面反射镜互相垂直时,从该干涉仪中观察到的干涉图样是一组同心圆圈,他们是()A 内圈的干涉级数高于外圈的等厚干涉条纹B 内圈的干涉级数低于外圈的等厚干涉条纹C 内圈的干涉级数高于外圈的等倾干涉条纹D 内圈的干涉级数低于外圈的等倾干涉条纹

考题 单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A 球面干涉B 等倾干涉C 等厚干涉

考题 单选题利用迈克耳孙干涉仪获得等倾干涉条纹,增大干涉条纹的间距的方法有()A 增大等效空气层的厚度hB 减小入射光的波长C 减小等效空气层的厚度hD 以上说法都不对

考题 问答题是否所有的圆形条纹都是等倾干涉条纹?举例说明之。

考题 单选题在迈克尔孙的等倾干涉实验中,可以观察到环形干涉条纹,干涉仪的平面反射镜M2由分光板所成的像为M′2,当M′2与干涉仪的另一块平面反射镜M1之间的距离变小时,则()A 条纹一个一个地从中间冒出,条纹间距变小B 条纹一个一个地向中间陷入,条纹间距变大C 条纹不变,但条纹的可见度下降D 条纹不变,但条纹的可见度提高

考题 问答题调节等倾干涉条纹时,怎样判断是否观察到了严格的等倾干涉条纹?