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用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。

  • A、球面干涉
  • B、等倾干涉
  • C、等厚干涉

参考答案

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考题 某一量具工作面的平面度,若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时,受检工作面的平面度一般不大于()A、0.01mmB、0.02umC、0.03um

考题 调节等倾干涉条纹时,怎样判断是否观察到了严格的等倾干涉条纹?

考题 等倾干涉花样和牛顿环相比,他们的中心明暗情况是()A、等倾干涉花样中心是亮的,牛顿环中心是暗的B、等倾干涉和牛顿环干涉花样中心都是亮的C、等倾干涉和牛顿环干涉花样的中心都是暗的D、等倾干涉花样的中心可亮可暗,牛顿环干涉花样中心一定是暗的

考题 测量平面度误差时,常将平面平晶工作面贴在被测表面上,并稍加压力,就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多,则平面度误差()。

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考题 迈克尔孙干涉仪的两块平面反射镜互相垂直时,从该干涉仪中观察到的干涉图样是一组同心圆圈,他们是()A、内圈的干涉级数高于外圈的等厚干涉条纹B、内圈的干涉级数低于外圈的等厚干涉条纹C、内圈的干涉级数高于外圈的等倾干涉条纹D、内圈的干涉级数低于外圈的等倾干涉条纹

考题 劈尖干涉是等厚干涉,干涉条纹是()。

考题 关于牛顿环干涉条纹,下面说法正确的是:()A、是光的等倾干涉条纹;B、是光的等厚干涉条纹;C、条纹从内到外间距不变;D、条纹由内到外逐渐变疏;

考题 外径千分尺平面度用二级平晶按()检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法

考题 技术光波干涉法可以检定测量面的平面度,是利用光波()原理。

考题 检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

考题 在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm

考题 用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

考题 用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?

考题 用等厚干涉法检定平品平面度时,在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜()。A、干涉条纹尽量少B、2条或4条C、3条或5条

考题 当光的入射角一定时,光程差仅与薄膜厚度有关的干涉现象叫等厚干涉。这种干涉条纹叫做等厚干涉条纹。劈尖干涉和牛顿环干涉均属此类。

考题 单选题用等厚干涉法检定平品平面度时,在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜()。A 干涉条纹尽量少B 2条或4条C 3条或5条

考题 单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A 球面干涉B 等倾干涉C 等厚干涉

考题 单选题等倾干涉花样和牛顿环干涉花样干涉级分布是()A 等倾干涉,干涉级向外递增,牛顿环干涉级向外递减B 等倾干涉,干涉级向外递减,牛顿环干涉级向外递增C 等倾干涉和牛顿环干涉级都是向外递增D 等倾干涉和牛顿环干涉级都是向外递减

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考题 单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A 球面干涉B 等倾干涉C 等厚干涉

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考题 填空题技术光波干涉法可以检定测量面的平面度,是利用光波()原理。

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