考题
半圆试块的主要用途( )。A、测定斜探头人射点B、调整探测范围和扫描速度C、调节探伤灵敏度D、以上都对
考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）此题为判断题(对，错)。
考题
使探头不与钢轨直接接触，保护探头不磨损延长探头使用寿命的部件（ ）。A.阻尼块B.延迟块C.斜楔块D.保护膜
考题
探头C正在进行()A.距离测定
B.分辨力测定
C.灵敏度校验
D.折射角测定
考题
探头D正在进行()A.验证楔块角度
B.直探头分辨力测定
C.灵敏度测定
D.距离校验
考题
探头B正在进行()A.灵敏度调节
B.距离测定
C.声速测定
D.横波分辨力测定
考题
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
考题
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
考题
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
考题
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
WGT—1试块，R40mm的圆弧面，可用于测定斜探头的入射点和（）。
考题
半圆试块的主要用途（）。A、测定斜探头入射点B、调整探测范围和扫描速度C、调节探伤灵敏度D、以上都对
考题
WGT-3试块110mm底面是用于测定钢轨探伤仪（）通道灵敏度余量.A、70°探头B、37°探头C、0°探头D、斜探头折射角
考题
WGT—3试块主要用于检测（）。A、钢轨探伤仪灵敏度余量和距离幅度特性B、探头灵敏度余量和斜探头楔内回波幅度C、探头灵敏度余量和直探头楔内回波幅度D、A与B
考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
考题
阶梯试块的主要作用是测定钢轨探伤仪（）。A、0°探头通道灵敏度余量和距离幅度特性B、0°探头的灵敏度余量和楔内回波幅度C、探头的声束宽度D、0°探头通道距离幅度特性和楔内回波幅度
考题
填空题WGT—1试块，R40mm的圆弧面，可用于测定斜探头的入射点和（）。
考题
单选题WGT—3试块主要用于检测（）。A
钢轨探伤仪灵敏度余量和距离幅度特性B
探头灵敏度余量和斜探头楔内回波幅度C
探头灵敏度余量和直探头楔内回波幅度D
A与B
考题
判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
单选题图中探头A在进行（）A
验证试块的圆度B
灵敏度调节C
分辨力测定D
探头入射点测定
考题
单选题WGT-3试块110mm底面是用于测定钢轨探伤仪（）通道灵敏度余量.A
70°探头B
37°探头C
0°探头D
斜探头折射角
考题
单选题半圆试块的主要用途（）。A
测定斜探头入射点B
调整探测范围和扫描速度C
调节探伤灵敏度D
以上都对
考题
判断题IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。A
对B
错
考题
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A
测定斜探头K值B
测定直探头盲区范围C
测定斜探头分辨力D
以上全是
考题
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A
直探头的的远场分辨力B
斜探头的K值C
斜探头的入射点D
斜探头的声束偏斜角
考题
单选题阶梯试块的主要作用是测定钢轨探伤仪（）。A
0°探头通道灵敏度余量和距离幅度特性B
0°探头的灵敏度余量和楔内回波幅度C
探头的声束宽度D
0°探头通道距离幅度特性和楔内回波幅度