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维尔达把过程能力指数满足要求的状态称为（ ）。
A.过程稳态 B.控制稳态 C.技术稳态 D.分析稳态
A.过程稳态 B.控制稳态 C.技术稳态 D.分析稳态
参考答案
参考解析
解析：分析用控制图主要分析过程是否处于统计控制状态，以及该过程的过程能力指数是否满足要求。维尔达把过程能力指数满足要求的状态称为技术稳态。
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考题
下列关于过程性能指数的叙述，正确的有( )。A．过程性能指数是稳态下衡量过程加工内在一致性的指数B．过程性能指数又称为长期过程能力指数C．通常过程性能指数大于过程能力指数D．通常过程性能指数小于过程能力指数E．计算过程性能指数不要求过程处于稳态
考题
在做分析用控制图时，主要分析的内容包括（ ）。A.分析生产过程是否处于统计控制状态B.计算这个生产过程的不合格品率C.分析该过程的过程能力指数是否满足要求D.计算过程能力指数的偏移系数E.以上全不是
考题
作为分析用控制图主要分析的内容包括( )。A．计算过程的偏移系数B．分析该过程的过程能力指数是否满足要求C．分析生产过程是否处于统计控制状态D．计算过程的不合格品率E．考察当班人员的操作水平
考题
关于过程能力分析和过程性能分析的说法，正确的有（ ）。
A.一般来说，过程能力指数Cpk不小于过程性能指数Ppk
B.过程性能指数只有在过程处于统计控制状态时才能计算
C.过程性能指数可以反映实际状态
D.与数据不是按照时间顺序收集时，计算过程能力指数没有意义
E.当过程能力指数远大于过程性能指数时，说明过程的管理有待加强
考题
绘制分析用控制图阶段的主要工作有（ ）。
A.分析过程是否处于统计控制状态
B.分析过程是否存在偶然波动
C.实时分析数据，监控过程长期运行状态
D.分析过程的过程能力指数是否满足要求
E.分析过程合格率低的原因
考题
作为分析用控制图，主要分析的内容包括（ ）。
A.分析生产过程是否处于统计控制状态
B.分析该过程的过程能力指数是否满足要求
C.分析有偏移情况的过程能力指数
D.计算过程的不合格品率
E.计算过程的偏移系数
考题
对工序质量因素“5MIE” 进行分析。在保证所控制的总体分布参数（μ和σ）能够满足规范要求的前提下，使各个因素都处于正常状态，称为（）A、过程控制B、过程分析C、过程能力D、过程能力指数
考题
多选题在做分析用控制图时，主要分析的内容包括( )。A分析生产过程是否处于统计控制状态B计算这个生产过程的不合格品率C分析该过程的过程能力指数是否满足要求D计算过程能力指数的偏移系数E以上全不是
考题
多选题过程处于统计控制状态，则（ ）。[2008年真题]A过程中只有偶然因素，没有异常因素B过程中只有异常因素，没有偶然因素C过程能力指数未必满足要求D应继续判断过程是否达到技术控制状态E控制图中的点都集中在中心线附近的C区
考题
多选题下列关于过程性能指数的叙述，正确的有（ ）。[2007年真题]A过程性能指数是稳态下衡量过程加工内在一致性的指数B过程性能指数又称为长期过程能力指数C通常过程性能指数大于过程能力指数D通常过程性能指数小于过程能力指数E计算过程性能指数不要求过程处于稳态
考题
多选题作为分析用控制图，主要分析的内容包括（ ）。A分析生产过程是否处于统计控制状态B分析该过程的过程能力指数是否满足要求C分析有偏移情况的过程能力指数D计算过程的不合格品率E计算过程的偏移系数
考题
单选题维尔达把过程能力指数满足要求的状态称为（ ）。A
过程稳态B
控制稳态C
技术稳态D
分析稳态
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