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将控制限作为控制标准进行日常控制，必须满足的条件有（ ）。
A.过程处于统计控制状态
B.过程能力指数满足要求
C.过程存在异常因素
D.过程能力尚未充足
E.控制限与公差限不一致
参考答案
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考题
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C．状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。A.过程处于统计控制状态B.具有足够的生产能力C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D.过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
某产品质量特性的规范要求为16±2，拟利用均值一标准差控制图对其进行控 制。根据绘制的分析用控制图知过程处于统计控制状态，且X=16.2，s = 0.5。过程能力分析的结果表明当前过程能够满足顾客要求，故将分析用控制图转化为控制用控制图，继续监控过程。现从生产线上抽取一个样本量的子组，测量值分别为 16. 0, 15.5，16. 4, 17.0，17.1。已知控制图系数C4 =0. 94，A3=1.427。
A.落在控制限外 B.落在控制限内
C.形成异常链 D.落在中心线上方
考题
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，（ ）的控制线延长能作为控制用的控制图。
A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态
B.状态II，统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态
C.状态III，统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态
D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
下列推断中，正确的是（ ）。
A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
均值控制图显示最近有连续9个点落在中心线的同一侧，但均在控制限内，这说明（ ）。
A.过程失控，过程中心出现系统偏移，应查找原因，及时纠正
B.过程输出呈现趋势性变化，应重新计算控制界限
C.样本点均在控制限内，过程处于统计控制状态
D.过程受控，不会影响Cp和Cpk
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
-s图的绘图步骤包括（ ），延长统计控制状态下的-s控制图的控制限，进入控制用控制图阶段，实现对过程的日常控制。 A.依据合理子组原则，取得预备数据
C.计算-s图的控制限，绘制控制图
D.与容差限比较，计算过程能力指数
E.检验过程能力指数是否满足技术要求
考题
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
根据上述计算结果，判断过程（）。
A.处于统计控制状态和技术控制状态
B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
常规控制图对过程质量特性值进行测定、记录、评估，从而监察过程是否处于控制状态的一种用统计方法设计的图，图中组成部分有（）。A、上、下控制限B、公差界限C、子样数据的描点序列D、控制中心线E、数组
考题
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。[2006年真题]A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A
过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C
过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。A
过程处于统计控制状态和技术控制状态B
过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C
过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D
过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，（ ）的控制线延长能作为控制用的控制图。A
状态Ⅰ，统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B
状态Ⅱ，统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C
状态Ⅲ，统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D
状态Ⅳ，统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种（）的控制线延长能作为控制用的控制图。A
状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B
状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C
状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D
状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
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