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分析机器设备的缺陷数时,宜采用( )。
A. p控制图

B. np图

C. u控制图

D.X-R控制图


参考答案

参考解析
解析:。计点值控制图。
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考题 当待排序的记录数较大、排序码较随机且对稳定性不做要求时,宜采用快速排序;当待排序的记录数较大,存储空间允许且要求排序是稳定时,宜采用归并排序。此题为判断题(对,错)。

考题 分析机器设备的缺陷数时,宜采用( )。A.P控制图B.np图C.u控制图D.X-Rs控制图

考题 描述分类数据的集中趋势时,宜采用() A.众数 B.中位数 C.简单平均数 D.加权平均数

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考题 直流供电回路电缆芯数选择为()。 A.宜采用两芯电缆; B.宜采用三芯电缆; C.当需要时可采用单芯电缆; D.宜采用四芯电缆。

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考题 以资产保全为目的的机器设备评估,一般宜采用重置成本法。A对B错

考题 下列选项中,关于合格品正确的是()A、一等品是指严重缺陷数≤0,重缺陷数≤0;轻缺陷数≤7B、优等品是指严重缺陷数≤0,重缺陷数≤0;轻缺陷数≤4C、一等品是指严重缺陷数=0,重缺陷数≤1,轻缺陷数≤3D、合格品是指严重缺陷数≤0,重缺陷数≤1,轻缺陷数≤10

考题 描述分类数据的集中趋势时,宜采用()。A、众数B、中位数C、简单平均数D、加权平均数

考题 直流供电回路电缆芯数选择为()。A、宜采用两芯电缆;B、采用三芯电缆;C、当需要时可采用单芯电缆;D、采用四芯电缆。

考题 磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

考题 当待排序的记录数较大,排序码较随机且对稳定性不作要求时,宜采用()排序;当待排序的记录数较大,存储空间允许且要求排序是稳定时,宜采用()排序。

考题 簿的试件或近距离缺陷探伤时,宜采用()探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直

考题 下列选项中,正确的说法是()A、一等品是指严重缺陷数≤0,重缺陷数≤0,轻缺陷数≤7B、优等品是指严重缺陷数≤0,重缺陷数≤0,轻缺陷数≤4C、一等品是指严重缺陷数=0,重缺陷数≤1,轻缺陷数≤3D、合格品是指严重缺陷数≤0,重缺陷数≤1,轻缺陷数≤10

考题 在FMEA分析中,如何定义发生缺陷的可能性()A、发生率B、严重度C、检测率D、缺陷数

考题 控制产品平均单位样品缺陷数采用什么控制图?

考题 控制产品单位样品缺陷数采用什么控制图?

考题 采用香蕉曲线进行分析时,进度曲线应落在闭合曲线的上部为宜。

考题 当220kV配电装置进出线数为15回以上时,宜采用()接线方式。

考题 填空题对港口吊车吊臂深部的缺陷定期探伤,宜采用()探伤;对涂覆防锈漆的输油管外表面缺陷探伤,宜采用()探伤。

考题 单选题补焊小型薄壁铸铁件的缺陷时,宜采用()A 气焊B 钎焊C 电阻焊D 摩擦焊

考题 填空题当待排序的记录数较大,排序码较随机且对稳定性不作要求时,宜采用()排序;当待排序的记录数较大,存储空间允许且要求排序是稳定时,宜采用()排序。

考题 单选题描述分类数据的集中趋势时,宜采用()。A 众数B 中位数C 简单平均数D 加权平均数

考题 单选题机会缺陷率DPO的计算公式是()A DPO=缺陷数/(产品数×机会数)B DPO=(产品数×机会数)/缺陷数C DPO=产品数/(缺陷数×机会数)D DPO=(缺陷数×机会数)/产品数

考题 判断题以资产保全为目的的机器设备评估,一般宜采用重置成本法。A 对B 错

考题 填空题磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

考题 问答题控制产品单位样品缺陷数采用什么控制图?

考题 多选题簿的试件或近距离缺陷探伤时,宜采用()探头.A大尺寸B小尺寸C联合双直