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在解释Cp和Cpk的关系时，下列表述正确的是( )。

A．规格中心与分布中心重合时，Cp=Cpk

B．Cpk是大于或等于Cp

C．Cp和Cpk之间没有关系

D．Cpk总是小于Cp

参考答案

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考题 过程能力指数( )。A．与过程质量特性值的分布中心位置无关B．过程质量特性值分布中心位置与规范中心偏移越大，Cpk越高C．过程质量特性值分布中心位置与规范中心偏移越大，Cpk越低D．Cpk＜CpE．Cpk≤Cp
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考题 下列关于Cp和Cpk的说法中，不正确的是( )。A．Cp越大，质量能力越强B．有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数，Cpk越大，则二者偏离越小，是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果C．Cp的着重点在于质量能力D．Cpk的着重点在于管理能力，没有考虑质量能力
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考题 当质量特性值的分布中心与规范中心重合时,过程能力指数()。 A、CP>CPKB、CP=CPKC、CP＜CPKD、无对应关系
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考题 使用控制图对具有双侧规格限的质量特性值进行控制，中心线位于规格中心，计算出的过程能力指数Cp1，下列推断中，正确的有（ ）。A.上下规格限与上下控制限重合B.上规格限位于上控制限上方C.下规格限位于下控制限上方D.此时Cpk=CpE.此时过程的不合格品率高于1％
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考题 关于过程能力及过程能力指数的说法，正确的有（ ）。A.过程能力的大小与公差无关B.Cp等于公差除以3倍的过程质量特性标准差C.Cp值越大，表明过程质量特性的离散程度越大D.Cp与CpK的差反映了过程分布中心与规范中心的偏离程度E.Cp=l时，99.73％的过程输出将在规范范围内
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考题 关于Cp与Cpk的说法，正确的有（ ）。A.只有在过程处于统计控制状态才能计算B.Cp仅能用于双侧规范限的情况C.Cpk可以反映过程中心的偏移D.一般来说，Cpk不大于CpE.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
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考题 两个过程能力指数Cp与Cpk间的关系是( )。A.Cp≤CpkB.Cpk≤CpC.Cp/Cpk=1-KD.Cp/Cpk=1+K
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考题 在解释Cp和Cpk的关系时，正确的表述是（ ）。A.规格中心与分布中心重合时，Cp =Cpk B. Cpk总是大于或等于Cp C. Cp和Cpk之间没有关系 D. Cpk总是小于Cp
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考题 在解释Cp和Cpk的关系时，下列表述正确的是（ ）。 A.规格中心与分布中心重合时，Cp=Cpk B. Cpk总是大于或等于Cp C. Cp和Cpk之间没有关系 D. Cpk总是小于Cp
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考题 对于过程能力指数Cp、Cpk，以下理解错误的是（）A、当Cp与Cpk较小（如小于0.5）时，则客户所要求的公差可能较宽松，合格品率高B、在某些特殊情况下，Cpk可能会大于CpC、对于供应商而言，通过分析供应商的Cp与Cpk可以了解各个供应商的质量水平，并要求Cp、Cpk大的供应商进行整改D、CNC车床加工产品尺寸显示Cpk值小，但Cp值大，代表尺寸中心偏倚，可以进行加工设备参数的调校过程
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考题 关于CP、CPK的说法，正确的是（）A、CP大于或等于CPKB、CP大于或等于KCPC、CP很大，CPK很小，说明过程的散布很小，均值偏离中心很大D、CP很大，CPK很小，说明过程的散布很大，均值偏离中心很小
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考题 两个过程能力指数Cp与Cpk间的关系是（）A、Cp≤CpkB、Cpk≤CpC、Cp/Cpk=1-KD、Cp/Cpk=1+K
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考题 Cp与Cpk关系，以下哪个表述正确：（）A、Cp≤CpkB、Cp≥CpkC、CpD.CpCpk
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考题 下面是对工程能力研究时的几种描述，其中不正确的是（）A、Cpk可以是负值；B、Cp与Cpk可以相等C、Cpu与Cpl可以相等D、Cp可以是负值
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考题 CP的大小与下列哪些因素有关？（）A、产品规格B、产品公差大小C、产品的分布散度D、产品相对于规格中心的偏离
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考题 关于Cp和Cpk的概念，下列哪个是正确的？（）A、Cp综合反应过程变差及其与target的关系，Cpk仅反应数据分布的稳定程度B、Cp仅反应数据分布的稳定程度，Cpk仅反应与target的关系C、Cp仅反应数据分布的稳定程度，Cpk综合反应过程变差及其与target的关系
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考题 对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）A、根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率B、根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C、缺陷率与Cp和Cpk无关D、以上说法都不对
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考题 某种轴承，其直径要求为Φ40±0.1mm，连续数批检验结果表明，直径平均值为Φ39.96mm，标准差为0.02mm。回答下列小题。当质量特性值的分布中心与公差中心重合时，则Cp与Cpk的关系是（）A、CpCpkB、CpC、Cp=CpkC、无对应关系
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考题 多选题关于CP、CPK的说法，正确的是（）ACP大于或等于CPKBCP大于或等于KCPCCP很大，CPK很小，说明过程的散布很小，均值偏离中心很大DCP很大，CPK很小，说明过程的散布很大，均值偏离中心很小
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考题 单选题对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）A 根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率B 根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C 缺陷率与Cp和Cpk无关D 以上说法都不对
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考题 多选题CP的大小与下列哪些因素有关？（）A产品规格B产品公差大小C产品的分布散度D产品相对于规格中心的偏离
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考题 单选题在解释Cp和Cpk的关系时，正确的表述是(　　)。A 规格中心与分布中心重合时，Cp=CpkB Cpk 总是大于或等于CpC Cp和Cpk之间没有关系D Cpk 总是小于Cp
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考题 单选题Cp与Cpk关系，以下哪个表述正确：（）A Cp≤CpkB Cp≥CpkC CpD.CpCpk
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考题 多选题对于过程能力指数Cp、Cpk，以下理解错误的是（）A当Cp与Cpk较小（如小于0.5）时，则客户所要求的公差可能较宽松，合格品率高B在某些特殊情况下，Cpk可能会大于CpC对于供应商而言，通过分析供应商的Cp与Cpk可以了解各个供应商的质量水平，并要求Cp、Cpk大的供应商进行整改DCNC车床加工产品尺寸显示Cpk值小，但Cp值大，代表尺寸中心偏倚，可以进行加工设备参数的调校过程
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考题 单选题关于Cp和Cpk的概念，下列哪个是正确的？（）A Cp综合反应过程变差及其与target的关系，Cpk仅反应数据分布的稳定程度B Cp仅反应数据分布的稳定程度，Cpk仅反应与target的关系C Cp仅反应数据分布的稳定程度，Cpk综合反应过程变差及其与target的关系
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