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利用衍射仪测试试样的各条衍射线的相对强度时,要求试样本身的面积小于X射线入射线所照射的试样表面积。


参考答案和解析
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更多 “利用衍射仪测试试样的各条衍射线的相对强度时,要求试样本身的面积小于X射线入射线所照射的试样表面积。” 相关考题
考题 X 射线衍射分析的粉末试样必须满足两个条件:( )和( )。

考题 X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积增大时,谱线的强度()。 A、增大B、减小C、不变

考题 现场粘贴的同类饰面砖,当不符合下列( )指标要求时,其粘结强度应定为不合格。A.每组试样最小粘结强度不应小于0.4MPa B.每组可有一个试样的粘结强度小于0.4MPa,但不应小于0.3MPa C.每组试样平均粘结强度不应小于0.4MPa D.每组试样平均粘结强度不应小于0.3MPa E.每组可有两个试样的粘结强度小于0.4MPa,但不应小于0.3MPa

考题 采用高KV值X射线照相法的特点是适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相。

考题 X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。A、增大B、减小C、不变D、无变化

考题 设一次X射线以一定角度入射到试样表面,当各种实验条件固定不变时,产生的荧光X射线的强度与待测元素在试样中的()成正比。如果事先建立了两者之间的关系,即可据此关系进行(),建立两者之间关系的过程即为()。

考题 X射线荧光光谱仪,激发光源采用X射线,试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。

考题 在试样周围放置铅板的目的是()A、防止试样移位B、增加被测对象的对比度C、减少试样非曝光区域的散射线影响D、产生较短波长的X射线辐射

考题 试样中靠近射线源侧的缺陷影像,在()情况下其清晰度不好A、射线源到物体距离增大B、试样厚度增大C、焦点尺寸减小D、试样厚度减小

考题 为了增加X射线的强度:()A、应增大管电流B、应减小管电流C、试样应远离胶片D、降低加于射线管的电压:

考题 在X射线荧光分析中,一个理想的待测固体试样应满足()A、有代表性B、试样均匀C、表面平整、光洁、无裂纹D、试样有足够厚度,不变形

考题 X射线荧光光谱分析的试样,可以是固态,也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。

考题 X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么?

考题 X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与()之间。A、X射线管B、晶体C、探测器

考题 试样受X射线照射后,其中各元素原子的()被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁,并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线,或称为X射线荧光。A、外层电子B、内层电子C、原子D、高能电子

考题 说明用衍射仪进行多晶试样的衍射分析的原理和过程。

考题 单选题X射线衍射试样的晶粒尺寸变小会使()A 衍射峰变强B 衍射峰变弱C 衍射峰变宽D 衍射峰变窄

考题 问答题衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同?

考题 判断题X射线荧光光谱仪,激发光源采用X射线,试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。A 对B 错

考题 单选题为了增加X射线的强度:()A 应增大管电流B 应减小管电流C 试样应远离胶片D 降低加于射线管的电压:

考题 问答题试述衍射仪在入射光束、试样形状、试样吸收,以及衍射线记录等方面与德拜法有何异同?测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30°角时,计数管与入射线成多少度角?

考题 问答题测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成300角,则计数管与入射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的自由表面是何种几何关系?

考题 单选题衍射仪的测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30度角时,计数管与入射线成多少度角?()A 30度;B 60度;C 90度。

考题 单选题洛伦兹因子中,第一几何因子反映的是()A 晶粒大小对衍射强度的影响B 参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C 衍射线位置对衍射强度的影响D 试样形状对衍射强度的影响

考题 单选题在试样周围放置铅板的目的是()A 防止试样移位B 增加被测对象的对比度C 减少试样非曝光区域的散射线影响D 产生较短波长的X射线辐射

考题 问答题测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成30°角,则计数管与人射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的自由表面呈何种几何关系?

考题 单选题在待测试样中掺入一定含量的标准物质,把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较,从而获得待测相含量的定量分析方法称为()A 外标法B 内标法C 直接比较法D K值法

考题 问答题用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?