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哪些电子信号用于SEM测试分析样品形貌？其中哪个是决定分辨率的主要因素？
参考答案和解析
ABCD
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考题
下面有关基于风险的方法的描述哪个是不正确的（）A、识别的风险经常用于决定哪些需要更多测试，哪些可以减少测试B、识别的风险经常用于决定多少测试服务C、识别的风险经常用于决定使用何种测试工具D、识别的风险经常用于决定使用何种测试技术
考题
多选题下面关于电镜分析叙述中正确的是（）A电镜只能观察形貌；B电镜可观察形貌、成分分析、结构分析和物相鉴定；C电镜分析在材料研究中广泛应用，是因为放大倍数高，与分辨率无关；D电镜在材料研究中广泛应用，是因为放大倍数高，分辨率高。
考题
单选题下面有关基于风险的方法的描述哪个是不正确的（）A
识别的风险经常用于决定哪些需要更多测试，哪些可以减少测试B
识别的风险经常用于决定多少测试服务C
识别的风险经常用于决定使用何种测试工具D
识别的风险经常用于决定使用何种测试技术
考题
多选题在扫描电镜分析中（）A成分像能反映成分分布信息，形貌像和二次电子像反映形貌信息B所有扫描电镜像，只能反映形貌信息C形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮，平坦和凹谷处最暗D扫描电镜分辨率比透射电镜高
考题
单选题表面形貌分析的手段包括（）A
X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）B
SEM和透射电镜（TEM）C
波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS）D
扫描隧道显微镜（STM）和SEM
考题
单选题扫描电子显微镜主要用于表面形貌的观察，在失效分析工作中具有非常重要的作用。它的分辨率高，可达（）nm。A
0.1～0.2nmB
0.5～0.8nmC
3～4nmD
10～20nm
考题
单选题电子显微分析与其它的形貌、结构和化学组成分析方法相比不具有的特点（）A
具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体结构和化学成分B
为一种微区分析方法，具有很高的分辨率，成像分辨率达到0.2～0.3nm（TEM），可直接分辨原子，能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析C
各种仪器日益向多功能、综合性方向发展D
操作复杂
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