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基线是无样品进入检测器时,检测器输出信号随时间的记录,呈现一条直线的状态。


参考答案和解析
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考题 后分光的光路是A、光源→样品→分光元件→检测器B、光源→分光元件→样品→检测器C、样品→光源→分光元件→检测器D、样品→分光元件→光源→检测器E、分光元件→光源→样品→检测器

考题 前分光的光路特点是A.光源→分光元件→样品→检测器B.光源→样品→分光元件→检测器C.样品→分光元件→光源→检测器D.样品→光源→分光元件→检测器E.分光元件→样品→光源→检测器

考题 纯载气进入进入检测器时,基线走得平直说明仪器工作稳定。() 此题为判断题(对,错)。

考题 三维定量荧光仪的样品检测流程是()。 A、光源→EX分光→样品→EM分光→检测器→信号处理→显示B、光源→EM分光→样品→EX分光→检测器→信号处理→显示C、光源→EX分光→样品→检测器→EM分光→信号处理→显示D、光源→EX分光→检测器→样品→EM分光→信号处理→显示

考题 在没有被分析的组分进入气相色谱仪检测器时,反映检测器噪声随时间变化的线称为()。 A、零线B、基线C、参比线

考题 当( )进入检测器时,记录笔所划出的线称为基线。A.无载气B.纯载气C.纯试剂D.空气

考题 随单位体积的载气或在单位时间内进入检测器的组分所产生的信号等于基线噪音的两倍时的量称为()

考题 色谱仪的检测限数值上定义为当检测器产生的()是噪声的2倍时,单位时间内进入检测器的组分的数量,通常用M表示。A、电信号B、浓度信号C、峰面积D、峰高

考题 热导检测器可以检测()、()等样品,氢火焰检测器适于检测()样品,电子捕获检测器只能检测()样品。

考题 在没有被分析的组分进入气相色谱仪检测器时,反映检测器噪声随时间变化的线,称为()。A、基线B、斜率C、衰减

考题 HPLC中,紫外检测器是常用的检测器之一。下列说法正确的是()。A、紫外检测器是通用型检测器B、仪器预热,色谱系统进行平衡时,紫外检测器的光源应打开监测基线C、样品池或参比池被样品玷污后,可以拆开清洗D、上述说法都不对

考题 在气相色谱分析中,应用热导池为检测器时,记录仪基线无法调回,产生这现象的原因是()。A、记录仪滑线电阻脏B、热导检测器热丝断C、进样器被污染D、热导检测器不能加热

考题 当( )进入检测器时,记录笔所划出的线称为基线。A、无载气B、纯载气C、纯试剂D、空气

考题 气相色谱检测器的检测信号与检测物质量的数学关系有()。A、与进入检测器物质质量成正比B、与进入检测器物质质量成反比C、与进入检测器物质浓度成正比D、与进入检测器物质浓度成反比

考题 在没有任何样品加到色谱检测器中时,检测器所产生的信号一般称为()信号。

考题 当没有样品组分进入检测器时,色谱流出曲线只是一条反应仪器噪声随()变化的曲线称为基线。A、时间B、载气流量C、载气压力D、样品气流量

考题 简述采用FID检测器的色谱仪记录基线不稳定的原因。

考题 工业色谱仪基线是在没有被测组分进入检测器时,在仪器操作条件下,反应仪器噪声随时间变化的记录曲线,准确地走好基线是工业色谱仪完成正常()、工艺样品准确测量的保证。A、取样B、检查C、校验D、维修

考题 无给定样品通过检测器时,由仪器本身和工作条件所造成的基线起伏信号称为()A、基线B、噪音C、灵敏度D、检测线

考题 色谱分析仪检测器检测限是指检测器产生恰好能够检测的()时,在单位体积载气或单位时间内进入检测器的组分的数量。用M表示。A、电压B、电流C、电信号D、电阻

考题 在比较液相色谱检测器的性能时,常使用敏感度这一指标。敏感度即信号与噪声的比值(信噪比)等于()时,在单位时间内进入检测器的样品的浓度或质量。A、1B、2C、2.5D、3

考题 气相色谱检测器“基线噪音”增大的主要原因是()A、检测器被污染B、样品基体复杂C、进样量过大D、载气流速过大

考题 纯载气进入进入检测器时,基线走得平直说明仪器工作稳定.

考题 判断题纯载气进入进入检测器时,基线走得平直说明仪器工作稳定.A 对B 错

考题 单选题色谱流出曲线中的基线是指()。A 当流动相含有组分时通过检测器所得到的信号B 在只有流动相通过检测器是所得到的信号C 分离后的组分依次进入检测器而形成的色谱流出曲线D 色谱流出曲线的横坐标

考题 单选题气相色谱检测器“基线噪音”增大的主要原因是()A 检测器被污染B 样品基体复杂C 进样量过大D 载气流速过大

考题 单选题当比较液相色谱检测器的性能时,常使用敏感度这一指标。敏感度即指信号与噪声的比值(信噪比)等于()时,在单位时间内进入检测器的样品的浓度或质量。A 1B 2C 2.5D 3

考题 单选题后分光的光路是()。A 光源→样品→分光元件→检测器B 光源→分光元件→样品→检测器C 样品→光源→分光元件→检测器D 样品→分光元件→光源→检测器E 分光元件→光源→样品→检测器