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在质谱分析法中，使不同质荷比的正离子在强磁场沿着弧形轨道分离开来，质荷比大的正离子，其轨道弯曲较_________，而质荷比小的正离子，轨道弯曲程度较________， 这样即可由磁场强度推算出离子质量，从而得出某一化合物的组成。
参考答案和解析
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考题
有关质谱分析法叙述正确的是A、质谱分析法是通过对被测样品的质荷比（m/e）进行测定来对样品进行定性分析的一种方法B、质谱分析法是通过对被测样品的质荷比（m/e）进行测定来对样品进行定量分析的一种方法C、质谱分析法是通过对被测样品进行离子化，并对离子化离子的质荷比（m/e）进行测定来对样品进行定量分析的一种方法D、质谱分析法是通过对被测样品进行离子化，并对离子化离子的质荷比（m/e）进行测定来对样品进行定性分析的一种方法E、质谱分析法是通过对被测样品进行离子化，并对离子化离子的质荷比（m/e）进行测定来对样品进行定性和定量分析的一种方法
考题
有关质谱分析的基本原理，叙述全面的是A、用于分析的样品分子在离子源中离化成具有不同质量的单电荷分子离子和碎片离子，这些单电荷离子在加速电场中获得相同的动能并形成一束离子，进入由电场和磁场组成的分析器，离子束中速度较慢的离子通过电场后偏转大，速度快的偏转小B、在磁场中离子向角速度矢量相反方向的偏转，即速度慢的离子依然偏转大，速度快的偏转小；当两个场的偏转作用彼此补偿时，它们的轨道便相交于一点C、与此同时，在磁场中还能发生质量的分离，这样就使具有同一质荷比而速度不同的离子聚焦在同一点上，不同质荷比的离子聚焦在不同的点上，其焦面接近于平面，在此处用检测系统进行检测即可得到不同质荷比的谱线D、A+BE、A+B+C
考题
某化合物在一个具有固定狭峰位置和恒定磁场强度B的质谱仪中分析，当加速电压V慢慢地增加时，则首先通过狭峰的是：（）A、质量最小的正离子B、质量最大的负离子C、质荷比最低的正离子D、质荷比最高的正离子
考题
某化合物用一个具有固定狭缝位置和恒定加速电压V的质谱分析仪进行分析时，当磁场强度H慢慢增加时，首先通过狭缝的是（）。A、质荷比最高的正离子B、质荷比最低的正离子C、质量最大的正离子D、质量最小的正离子
考题
判断题质谱图中质荷比最大的峰不一定是分子离子峰但分子离子峰一定是质谱图中质荷比最大的峰。A
对B
错
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