网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)

某化合物用一个具有固定狭缝位置和恒定加速电压V的质谱分析仪进行分析时,当磁场强度H慢慢增加时,首先通过狭缝的是()。

  • A、质荷比最高的正离子
  • B、质荷比最低的正离子
  • C、质量最大的正离子
  • D、质量最小的正离子

参考答案

更多 “某化合物用一个具有固定狭缝位置和恒定加速电压V的质谱分析仪进行分析时,当磁场强度H慢慢增加时,首先通过狭缝的是()。A、质荷比最高的正离子B、质荷比最低的正离子C、质量最大的正离子D、质量最小的正离子” 相关考题
考题 在磁场强度保持恒定,而加速电压逐渐增加的质谱仪中,最先通过固定的收集器狭缝的是()。A质荷比最低的正离子B质量最高的负离子C质荷比最高的正离子D质量最低的负离子

考题 在磁场强度保持恒定,而加速电压逐渐增加的质谱仪中,试样中哪一种离子首先通过固定的收集器狭缝?()A、质荷比最高的正离子B、质荷比最低的正离子C、质量最大的正离子D、质量最小的正离子

考题 某化合物在一个具有固定狭峰位置和恒定磁场强度B的质谱仪中分析,当加速电压V慢慢地增加时,则首先通过狭峰的是:()A、质量最小的正离子B、质量最大的负离子C、质荷比最低的正离子D、质荷比最高的正离子

考题 质谱分析中,m/z称为()。A、质谱B、质荷比C、荷质比D、质中比

考题 质谱图中质荷比最大的峰不一定是分子离子峰但分子离子峰一定是质谱图中质荷比最大的峰。

考题 在质谱仪中当收集正离子的狭缝位置和加速电压固定时,若逐渐增加磁场强度H,对具有不同质荷比的正离子,其通过狭缝的顺序如何变化?()A、从大到小B、从小到大C、无规律D、不变

考题 电解质溶液中正离子的迁移速度是负离子迁移速度的2倍,正离子的迁移数是()A、2B、3C、2/3D、1/3

考题 通常,大气中的正离子与负离子的平均值为()A、正离子与负离子的平均值大致相当B、负离子大于正离子C、正离子大于负离子D、负离子远大于正离子

考题 质谱正离子检测模式可产生的加合离子形式不包括?()A、[M+H]+B、[M+Na]+C、[M+H2O]+D、[M+NH3]+

考题 质谱分析是一种测量离子()的分析方法。A、质量B、电荷数C、质荷比D、结构

考题 质谱分析是一种测量离子()的分析方法。A、质荷比B、荷质荷比C、相对原子(离子)质量D、质量分数

考题 在一束含有各种不同m/z值的离子,在一个具有固定狭缝位置和恒定点位的质谱仪中运动,磁场强度慢慢增大,首先用过狭缝的是m/z值最低还是最高的离子?为什么?

考题 解析一个化合物的H—NMR谱时,需要分析的信息有()A、化学位移B、峰面积C、信号裂分及偶合常数D、质荷比E、保留时间

考题 热缺陷亦称为本征缺陷,是指由热起伏的原因所产生的空位或间隙质点(原子或离子)。当离子晶体生成肖特基缺陷(Schottkydefect)时,()。A、正离子空位和负离子空位是同时成对产生的,同时伴随晶体体积的缩小B、正离子空位和负离子空位是同时成对产生的,同时伴随晶体体积的增加C、正离子空位和负离子间隙是同时成对产生的,同时伴随晶体体积的增加D、正离子间隙和负离子空位是同时成对产生的,同时伴随晶体体积的增加

考题 样品分子在质谱仪中发生的断裂过程,会形成具有单位正电荷而质荷比(m/z)不同的正离子,当其通过磁场时的动量如何随质荷比的不同而改变?其在磁场的偏转度如何随质荷比的不同而改变?

考题 仲碳正离子比伯碳正离子()。

考题 电解质溶液中正离子迁移数是指()A、正离子迁移的物质的量B、正离子迁移速率/所有离子迁移速率之和C、正离子迁移电荷数/负离子迁移电荷数D、正离子迁移的物质的量/总导电量的法拉第数

考题 单选题通常,大气中的正离子与负离子的平均值为()A 正离子与负离子的平均值大致相当B 负离子大于正离子C 正离子大于负离子D 负离子远大于正离子

考题 单选题质谱分析是一种测量离子()的分析方法。A 质荷比B 荷质荷比C 相对原子(离子)质量D 质量分数

考题 单选题将下列化合物按碳正离子稳定性排序(  )。a.对甲氧基苯甲基正离子b.苯甲基正离子c.对硝基苯甲基正离子d.对甲基苯甲基正离子A d>a>c>bB a>d>c>bC a>d>b>cD d>a>b>c

考题 问答题在一束含有各种不同m/z值的离子,在一个具有固定狭缝位置和恒定点位的质谱仪中运动,磁场强度慢慢增大,首先用过狭缝的是m/z值最低还是最高的离子?为什么?

考题 单选题对于形成杂质缺陷而言,高价正离子占据低价正离子位置时,该位置带有正电荷,为了保持电中性,会产生()。A 正离子空位B 间隙负离子C 负离子空位D A或B

考题 问答题从负离子的立方密堆积出发, (1)正离子填满所有四面体位置; (2)正离子填满一半四面体位置,如T+位置; (3)正离子填满所有的八面体位置; (4)正离子填满八面体位置的交替层。说明四种情况的结构类型。

考题 问答题样品分子在质谱仪中发生的断裂过程,会形成具有单位正电荷而质荷比(m/z)不同的正离子,当其通过磁场时的动量如何随质荷比的不同而改变?其在磁场的偏转度如何随质荷比的不同而改变?

考题 多选题解析一个化合物的H—NMR谱时,需要分析的信息有()A化学位移B峰面积C信号裂分及偶合常数D质荷比E保留时间

考题 单选题在质谱仪中当收集正离子的狭缝位置和加速电压固定时,若逐渐增加磁场强度H,对具有不同质荷比的正离子,其通过狭缝的顺序如何变化?()A 从大到小B 从小到大C 无规律D 不变

考题 判断题质谱图中质荷比最大的峰不一定是分子离子峰但分子离子峰一定是质谱图中质荷比最大的峰。A 对B 错