考题
电阻应变片是基于导体、半导体材料在外力作用下发生机械形变导致其电阻值发生变化的原理。()
此题为判断题(对，错)。
考题
电阻应变片利用导体、半导体材料在外力作用下发生机械形变,导致其电阻值发生变化的原理。()
此题为判断题(对，错)。
考题
半导体式应变片在外力作用下引起其电阻变化的因素主要是( )。
A. 截面积B. 电阻率C. 长度D. 高通
考题
半导体应变片主要是利用半导体材料的（）A、形变B、电阻率的变化C、弹性模量的变化D、泊松比的变化
考题
电阻丝式应变片与半导体应变片在工作原理上有何不同？各有何优缺点？
考题
金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于：前者利用金属的（）引起的电阻变化，后者利用半导体材料的电阻率变化引起的电阻变化。
考题
金属应变片与半导体应变片在工作原理上都是利用金属形变引起电阻的变化。
考题
应变式传感器在外力作用下发生（），压阻式传感器在外力作用下其（）发生变化，两者都将引起输出电阻的变化。
考题
金属电阻应变片与半导体应变片的主要区别在于：前者利用（）引起的电阻变化，后者利用（）变化引起的电阻变化。
考题
在外力作用下，金属应变式传感器主要产生几何尺寸变化，而压阻式传感器主要是（）发生变化，两者都引起电阻值发生变化。
考题
金属丝应变片在测量某一构件的应变时，引起电阻的相对变化主要由（）。A、贴片位置的温度变化B、电阻丝几何尺寸的变化C、电阻材料的电阻率的变化D、电阻截面积
考题
电阻丝式应变片与半导体应变片在工作原理上有何不同？
考题
金属导体或半导体在外力作用下产生机械变形而引起导体或半导体的电阻值发生变化的物理现象称为（）。
考题
半导体式应变片在外力作用下引起其电阻变化的因素主要是（）。
考题
金属电阻丝应变片与半导体应变片在工作原理上有何区别？各有何特点？在用应变仪测量机构的应力，应变时，如何消除由于温度变化所产生的影响？
考题
金属导体或半导体在外力作用下产生机械变形而引起导体或半导体的电阻值发生变化的物理现象称为（）A、光电效应B、压电效应C、压阻效应D、应变效应
考题
金属电阻丝应变片与半导体应变片在工作原理上有何区别？各有何特点？
考题
金属电阻应变片与半导体应变片在工作原理上有何区别？
考题
电阻丝应变片与半导体应变片在工作原理上有何区别？
考题
金属应变片工作原理是利用（）效应；半导体应变片工作原理是利用（）效应。二者灵敏系数主要区别是：金属应变片的电阻变化主要由（）引起的，半导体应变片的电阻变化主要由（）引起的。
考题
半导体式应变片在外力作用下引起其电阻变化的因素主要是（）。A、长度B、截面积C、电阻率D、高通
考题
金属电阻受应力后，其电阻值的变化主要是由（）的变化引起的；半导体电阻受应力后，电阻的变化主要是由（）发生变化引起的。
考题
单选题（）传感器是当导体在外力作用下产生机械变形时，它的电阻值相应发生变化。A
变极距式B
金属电阻应变片式C
线绕变阻式D
半导体应变片
考题
问答题电阻丝应变片与半导体应变片在工作原理上有何区别？
考题
单选题金属应变片和半导体应变片主要区别描述错误的是（）A
金属应变片主要利用压阻效应B
金属应变片主要利用导体几何尺寸变换引起电阻变化C
半导体应变片主要利用电阻率变化引起电阻变化D
半导体应变片相比金属应变片的灵敏度高，但非线性误差大。
考题
问答题电阻丝式应变片与半导体应变片在工作原理上有何不同？各有何优缺点？
考题
填空题金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于：前者利用金属的（）引起的电阻变化，后者利用半导体材料的电阻率变化引起的电阻变化。
考题
问答题金属电阻应变片与半导体应变片在工作原理上有何区别？