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通过分析X射线通过晶体时在照相底片上的（），便可确定晶体结构

参考答案和解析
C
更多 “通过分析X射线通过晶体时在照相底片上的（），便可确定晶体结构” 相关考题
考题 有关X射线衍射的描述,错误的是()。 A、X射线是一种电磁波B、X射线衍射分析中得到的信息事实上是晶体中原子的电子密度分布图C、X-射线晶体结晶学技术可用于蛋白质结构的分析D、X-射线衍射图需要通过计算机进行计算，最终才能得出所测物质的结构特征
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考题 射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（）和（）。
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考题 在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为立体射线照相法。
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考题 曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定（）A、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量B、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量C、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度D、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件
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考题 当用观片灯观察底片时，为了获得更直观的效果，在曝光时采用不同方向摄取两张底片的特殊照相方法，称之为立体射线照相法。
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考题 射线照相的灵敏度由两个指标来确定，即射线底片的（）度和（）度。
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考题 射线照相的灵敏度由射线底片的对比度和清晰度两个指标来确定。
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考题 射线照相的原理主要是利用了X射线与γ射线的（）A、穿透力强B、能使底片感光C、成直线行进不会折射D、反射
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考题 所谓（），就是将固态金属及合金在加热（或冷却）通过相变点时，从一种晶体结构转变成另一种晶体结构的过程。A、再结晶B、结晶C、重结晶D、同素异构转变
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考题 射线照相的原理主要是利用了X射线与γ射线的（）A、穿透力强B、能使底片感光C、成直线行进不会折射D、以上都是
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考题 射线照相时，不同的投影角度会使工件上不同部位的特征点在底片上的相对位置改变。
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考题 夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状
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考题 X射线照相灵敏度取决于（）。A、底片上缺陷影响的不清晰度B、底片黑度C、曝光时间D、以上都对
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（）、（）。
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的清晰度、灰雾度。
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考题 在X射线照相中使用滤波板可以提高底片的（）和（）。
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考题 在测定商圈的基础上，通过地区分析、商业区分析，便可选择、确定理想的店铺位置。
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考题 X射线晶体衍射分析为什么采用X射线和晶体？
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考题 焊缝射线照相底片上常见缺陷（）、（）、（）和（）。
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考题 ⅹ射线在宝石鉴定中可（）。A、测试化学成分B、区分宝石真伪C、确定晶体结构D、A+C
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考题 判断题射线照相时，不同的投影角度会使工件上不同部位的特征点在底片上的相对位置改变。A 对B 错
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考题 判断题夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状A 对B 错
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考题 问答题比较X射线粉末多晶衍射仪法测定物质晶体结构与单晶衍射法测定物质晶体结构。
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考题 填空题焊缝射线照相底片上常见缺陷（）、（）、（）和（）。
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考题 填空题射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
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考题 单选题用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）A X射线透射学；B X射线衍射学；C X射线光谱学
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考题 单选题曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定（）A X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量B X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量C X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度D X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件
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