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单选题
THDS-A(哈科所)探测站的热靶组件由力矩转角()驱动。
A

电池

B

器件

C

结构

D

电机


参考答案

参考解析
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考题 THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线纵向升不上去,说明探头响应率上升。

考题 THDS-A(哈科所)系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度。

考题 THDS-A(哈科所)探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是()。A、热靶加热不足B、曲线斜率故障C、探头输出溢出D、热靶加热过快E、起始温度异常

考题 在THDS-A设备(哈科所)探测站中,靶温可代表()。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对

考题 THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线加热过快,可能会影响设备的测温精度。

考题 THDS-A(哈科所)探测站探头箱中的温度转换盒可完成()的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温

考题 关于THDS-A探测系统轴箱扫描器热靶大门组件描述错误的是()A、实现热靶加热B、在列车到达前、后将红外轴箱扫描器封闭,保护内部的清洁C、热靶和大门是分离的D、热靶大门组合件由力矩转角电机驱动

考题 THDS-A(哈科所)系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障。

考题 THDS-A(哈科所)探测站的热靶组件由力矩转角()驱动。A、电池B、器件C、结构D、电机

考题 THDS-A(哈科所)探测站中,探头箱内的热靶总成应符合()等要求。A、活动灵活B、热靶散热片应对准探头光路C、电机转动正常D、热靶散热板背面无锈蚀E、热靶散热板背面涂层无脱落

考题 THDS-A(哈科所)系统,热靶温度是由热靶上的AD590温度传感器传入控制箱的。

考题 THDS-A(哈科所)探测站热靶镀膜损伤时,影响()。A、探测角度B、保护门打开C、保护门关闭D、探测精度

考题 (康拓)THDS-A系统热靶大门组合件由力矩转角电机驱动,电机驱动两个热靶结构简单可靠,易于维护且在掉电状态下能够保持自锁状态有效避免人为破坏。

考题 THDS-A(哈科所)探测站控制航空插座包含()信号。A、探头电压B、热靶加热信号C、制冷电压D、元温输出信号

考题 THDS-A(哈科所)探测站探头电缆包含()信号。A、热靶加热信号B、保护门电压C、热靶电机电压D、校零电压

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,热靶温度是由热靶上的AD590温度传感器传入控制箱的。A 对B 错

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是()。A热靶加热不足B曲线斜率故障C探头输出溢出D热靶加热过快E起始温度异常

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站热靶镀膜损伤时,影响()。A 探测角度B 保护门打开C 保护门关闭D 探测精度

考题 单选题关于THDS-A探测系统轴箱扫描器热靶大门组件描述错误的是()A 实现热靶加热B 在列车到达前、后将红外轴箱扫描器封闭,保护内部的清洁C 热靶和大门是分离的D 热靶大门组合件由力矩转角电机驱动

考题 单选题在THDS-A设备(哈科所)探测站中,元温可代表()。A 环温B 热靶温度C 探头内部温度D 以上都不对

考题 单选题在THDS-A设备(哈科所)探测站中,靶温可代表()。A 环温B 保护门温度C 热靶温度D 以上都不对

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站控制航空插座包含()信号。A 探头电压B 热靶加热信号C 制冷电压D 元温输出信号

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度。A 对B 错

考题 判断题(康拓)THDS-A系统热靶大门组合件由力矩转角电机驱动,电机驱动两个热靶结构简单可靠,易于维护且在掉电状态下能够保持自锁状态有效避免人为破坏。A 对B 错

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站中,探头箱内的热靶总成应符合()等要求。A活动灵活B热靶散热片应对准探头光路C电机转动正常D热靶散热板背面无锈蚀E热靶散热板背面涂层无脱落

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