考题
THDS-A（哈科所）系统，热靶曲线纵向升不上去，说明探头响应率上升。
考题
THDS-A（哈科所）系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度。
考题
THDS-A（哈科所）探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是（）。A、热靶加热不足B、曲线斜率故障C、探头输出溢出D、热靶加热过快E、起始温度异常
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）系统，热靶曲线加热过快，可能会影响设备的测温精度。
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
THDS-A（哈科所）系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障。
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，板温可代表（）。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）探测站的热靶组件由力矩转角（）驱动。A、电池B、器件C、结构D、电机
考题
THDS-A（哈科所）系统，单侧热靶异常，一般情况下是室外轨边故障。
考题
THDS-A（哈科所）系统，双侧热靶曲线为一个点，可能造成双侧探头测温异常。
考题
下列THDS-A（哈科所）探测站关于热靶描述正确的有（）。A、最高温度150℃B、最高温度120℃C、升温速率1℃/1.8～2sD、采用PT1000温度传感器E、采用PT100温度传感器
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头电缆包含（）信号。A、热靶加热信号B、保护门电压C、热靶电机电压D、校零电压
考题
THDS-A（哈科所）设备热靶曲线有纵向跳变，则说明可能是探头温控板故障。
考题
THDS-A（哈科所）系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃。
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，热靶温度是由热靶上的AD590温度传感器传入控制箱的。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是（）。A热靶加热不足B曲线斜率故障C探头输出溢出D热靶加热过快E起始温度异常
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A
环温B
热靶温度C
探头内部温度D
以上都不对
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。A
环温B
保护门温度C
热靶温度D
以上都不对
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，热靶曲线加热过快，可能会影响设备的测温精度。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，热靶曲线纵向升不上去，说明探头响应率上升。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站探头电缆包含（）信号。A
热靶加热信号B
保护门电压C
热靶电机电压D
校零电压
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的热靶组件由力矩转角（）驱动。A
电池B
器件C
结构D
电机
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃。A
对B
错