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单选题
斜探头楔块底面磨损时,探头的()参数会变化。
A
频率和芯片厚度
B
入射角和入射点
C
芯片厚度和发射脉冲
D
试样中的波长芯片直径
参考答案
参考解析
解析:
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考题
横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。以下说法错误的是()A、探头磨损会使入射点发生变化B、探头磨损可能导致探头K值的增大C、探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、探头磨损可能导致探头K值的减小
考题
横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。下列说法错误的是()。A、探头磨损会使入射点发生变化B、 探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C、 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、 探头磨损可能导致扫描速度的变化
考题
单选题横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。以下说法错误的是()A
探头磨损会使入射点发生变化B
探头磨损可能导致探头K值的增大C
探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D
探头磨损可能导致探头K值的减小
考题
单选题横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。下列说法错误的是()。A
探头磨损会使入射点发生变化B
探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C
探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D
探头磨损可能导致扫描速度的变化
考题
判断题斜探头前部磨损较多时,探头的K值会变大。()A
对B
错
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