网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:
题目内容
(请给出正确答案)
斜探头楔块底面磨损时,探头的()参数会变化。
- A、频率和芯片厚度
- B、入射角和入射点
- C、芯片厚度和发射脉冲
- D、试样中的波长芯片直径
参考答案
更多 “斜探头楔块底面磨损时,探头的()参数会变化。A、频率和芯片厚度B、入射角和入射点C、芯片厚度和发射脉冲D、试样中的波长芯片直径” 相关考题
考题
横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。以下说法错误的是()A、探头磨损会使入射点发生变化B、探头磨损可能导致探头K值的增大C、探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、探头磨损可能导致探头K值的减小
考题
横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。下列说法错误的是()。A、探头磨损会使入射点发生变化B、 探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C、 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、 探头磨损可能导致扫描速度的变化
考题
单选题横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。以下说法错误的是()A
探头磨损会使入射点发生变化B
探头磨损可能导致探头K值的增大C
探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D
探头磨损可能导致探头K值的减小
考题
单选题横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。下列说法错误的是()。A
探头磨损会使入射点发生变化B
探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C
探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D
探头磨损可能导致扫描速度的变化
考题
判断题斜探头前部磨损较多时,探头的K值会变大。()A
对B
错
热门标签
最新试卷