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题目内容
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单选题
下列关于Cp和Cpk的说法中,不正确的是( )。
A
Cp越大,质量能力越强
B
有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果
C
Cp的着重点在于质量能力
D
Cpk的着重点在于管理能力,没有考虑质量能力
参考答案
参考解析
解析:
无偏移情况的Cp,表示过程加工的一致性,即“质量能力”,Cp越大,质量能力越强;而有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果。
更多 “单选题下列关于Cp和Cpk的说法中,不正确的是( )。A Cp越大,质量能力越强B 有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果C Cp的着重点在于质量能力D Cpk的着重点在于管理能力,没有考虑质量能力” 相关考题
考题
下列关于Cp和Cpk的说法中,不正确的是( )。A.Cp越大,质量能力越强B.有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果C.Cp的着重点在于质量能力D.Cpk的着重点在于管理能力,没有考虑质量能力
考题
下列有关Cp,Cpk的叙述正确的是( )。A.Cp——无偏移短期过程能力指数,Cpk——有偏移短期过程能力指数B.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——有偏移短期过程能力指数C.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——无偏移下单侧短期过程能力指数D.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——有偏移下单侧短期过程能力指数
考题
某轴承轴径的规范限为6.8±0.1mm,其在统计控制状态下服从N(6.75,0.022),则下列说法中,正确的有( )。A.Cp=l.0B.Cp=1.67C.Cpk=1.67D.CpK=0.83E.CpK=0.5
考题
关于Cp与Cpk的说法,正确的有( )。A.只有在过程处于统计控制状态才能计算B.Cp仅能用于双侧规范限的情况C.Cpk可以反映过程中心的偏移D.一般来说,Cpk不大于CpE.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
考题
下列有关Cp、Cpk的叙述正确的是( )。
A. Cp-无偏移短期过程能力指数,Cpk-有偏移短期过程能力指数
B.Cp-无偏移上单侧短期过程能力指数, Cpk--有偏移短期过程能力指数
C.Cp -无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk--无偏移下单侧短期过程能力指数
D. Cp--无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk--有偏移下单侧短过程能力指数Cpk
考题
在解释Cp和Cpk的关系时,下列表述正确的是( )。
A.规格中心与分布中心重合时,Cp=Cpk
B. Cpk总是大于或等于Cp
C. Cp和Cpk之间没有关系
D. Cpk总是小于Cp
考题
某轴承轴径的规范限为6.8±0.1 mm,其在统计控制状态下服从N(6. 75,0.022),则下列说法中,正确的有()。
A. Cp = 1. 0 B. Cp = 1. 67
C. CpK = 1. 67 D. CpK = 0. 83
E. CPK=0. 5
考题
对于过程能力指数Cp、Cpk,以下理解错误的是()A、当Cp与Cpk较小(如小于0.5)时,则客户所要求的公差可能较宽松,合格品率高B、在某些特殊情况下,Cpk可能会大于CpC、对于供应商而言,通过分析供应商的Cp与Cpk可以了解各个供应商的质量水平,并要求Cp、Cpk大的供应商进行整改D、CNC车床加工产品尺寸显示Cpk值小,但Cp值大,代表尺寸中心偏倚,可以进行加工设备参数的调校过程
考题
关于CP、CPK的说法,正确的是()A、CP大于或等于CPKB、CP大于或等于KCPC、CP很大,CPK很小,说明过程的散布很小,均值偏离中心很大D、CP很大,CPK很小,说明过程的散布很大,均值偏离中心很小
考题
关于linux系统中别名的定义,下列选项中不正确的是()。A、alias copy="cp"B、alias copy='cp'C、alias copy=`cp`D、alias copy=cp
考题
关于Cp和Cpk的概念,下列哪个是正确的?()A、Cp综合反应过程变差及其与target的关系,Cpk仅反应数据分布的稳定程度B、Cp仅反应数据分布的稳定程度,Cpk仅反应与target的关系C、Cp仅反应数据分布的稳定程度,Cpk综合反应过程变差及其与target的关系
考题
对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法,正确的是()A、根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率B、根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C、缺陷率与Cp和Cpk无关D、以上说法都不对
考题
多选题关于CP、CPK的说法,正确的是()ACP大于或等于CPKBCP大于或等于KCPCCP很大,CPK很小,说明过程的散布很小,均值偏离中心很大DCP很大,CPK很小,说明过程的散布很大,均值偏离中心很小
考题
单选题对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法,正确的是()A
根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率B
根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C
缺陷率与Cp和Cpk无关D
以上说法都不对
考题
单选题关于linux系统中别名的定义,下列选项中不正确的是()。A
alias copy=cpB
alias copy='cp'C
alias copy=`cp`D
alias copy=cp
考题
单选题下列关于Cp和Cpk的说法中,不正确的是( )。A
Cp越大,质量能力越强B
有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果C
Cp的着重点在于质量能力D
Cpk的着重点在于管理能力,没有考虑质量能力
考题
单选题关于Cp和Cpk的概念,下列哪个是正确的?()A
Cp综合反应过程变差及其与target的关系,Cpk仅反应数据分布的稳定程度B
Cp仅反应数据分布的稳定程度,Cpk仅反应与target的关系C
Cp仅反应数据分布的稳定程度,Cpk综合反应过程变差及其与target的关系
考题
单选题下列关于SPC的目的和作用说法正确的是()。A
SPC的目的和作用是统计OOC/OOS,CP和CPK等指数B
SPC的目的和作用是通过监控OOC/OOS,计算CP和CPK等指数,帮助工艺和生产人员采取适当之措施,实现过程的持续改进C
SPC的目的和作用是实现OOC/OOS报警,计算CP和CPK,让生产人员忙个不停
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