考题
所有340nm波长测定的项目均失控A.随机误差B.试剂问题导致的系统误差C.仪器问题导致的系统误差D.质控品问题导致的系统误差E.疏失误差
考题
克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用A．双波长法和双试剂两点法B．单试剂法和双试剂两点法C．双试剂单波长一点法和单试剂法D．双试剂两点法和双波长法E．双试剂单波长一点法和双试剂两点法
考题
克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用A、单试剂法B、单波长法C、双波长法D、双试剂单波长一点法E、双试剂两点法
考题
仪器和试剂引起的分析误差属于有某些恒定因素影响而出现的系统误差。()
此题为判断题(对，错)。
考题
在测定过程中,由试剂所引起的误差属于()。
A、方法误差B、试剂误差C、操作误差D、仪器误差
考题
量瓶的示值与真实容量的不一致所导致的误差为（）。A.方法误差B.试剂误差C.仪器误差D.恒定误差
考题
克服某些试剂不稳定引起韵误差可以采用A．双波长法和双试剂两点法B．单试剂法和双试剂两点法C．双试剂单波长一点法和单试剂法D．双试剂两点法和双波长法E．双试剂单波长一点法和双试剂两点法
考题
试剂中含有微量组分会引起( )。A.方法误差B.偶然误差C.过失误差D.试剂误差
考题
为保证试验的准确性、克服某些试剂不稳定引起的误差可采用A.单波长一点法B.双试剂单波长一点法、双试剂两点法C.单波长法D.单试剂单波长一点法E.双波长法
考题
仪器和试剂引起的分析误差，属于由某些恒定因素影响而出现的系统误差。
考题
由于分析方法本身不够完善所造成的误差称为（）。A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、操作误差
考题
空白实验可消除（）A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、操作误差
考题
以下哪些原因引起的误差无法通过多做平行试验进行克服（）A、试剂不纯B、天平不准C、室温波动D、方法本身的不足E、操作的偶然失误
考题
以下哪种原因引起的误差可通过多做平行试验进行克服（）A、试剂不纯B、天平不准C、室温波动D、方法本身的不足
考题
克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用（）A、双波长法B、单试剂法C、双试剂单波长一点法D、双试剂两点法E、终点法
考题
（）误差包括方法误差、仪器误差、操作误差及试剂误差。
考题
服从正态分布规律的误差是（）。A、系统误差B、偶然误差C、方法误差D、试剂误差
考题
下列属于偶然误差的是（）。A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、湿度误差E、温度误差
考题
系统误差的分为（）。A、仪器误差B、方法误差C、试剂误差D、操作误差E、主观误差
考题
试剂误差属于（）。A、偶然误差B、系统误差C、方法误差D、仪器误差
考题
试剂中含有微量组分会引起（）A、方法误差B、偶然误差C、过失误差D、试剂误差
考题
对偶然误差的描述下列正确的是（）。A、偶然误差是由方法误差引起的B、试剂纯度不够高可以导致偶然误差C、偶然误差可以通过合适的手段进行测量D、偶然误差决定测定结果的精密度
考题
单选题所有340nm波长测定的项目均失控（）A
随机误差B
试剂问题导致的系统误差C
仪器问题导致的系统误差D
质控品问题导致的系统误差E
疏失误差
考题
单选题以下哪种原因引起的误差可通过多做平行试验进行克服（）A
试剂不纯B
天平不准C
室温波动D
方法本身的不足
考题
单选题两水平质控检测，病理值所有项目均偏高（）A
随机误差B
试剂问题导致的系统误差C
仪器问题导致的系统误差D
质控品问题导致的系统误差E
疏失误差
考题
多选题克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用（）A双波长法B单试剂法C双试剂单波长一点法D双试剂两点法E终点法
考题
多选题以下哪些原因引起的误差无法通过多做平行试验进行克服（）A试剂不纯B天平不准C室温波动D方法本身的不足E操作的偶然失误
考题
多选题克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用（ ）A双试剂单波长一点法B双试剂两点法C双波长法D单试剂法E单波长法
