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s图的下控制限( )。[2008年真题]


参考答案

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考题 s图的上、下控制限是( )。A.UCLs=0.0543B.LCLs=0C.无下控制线LCLsD.UCLs=0.035

考题 Levey-Jennings质控图以x±3S为A、警告限B、失控限C、在控限D、误差限E、以上均都不是

考题 Levey-Jennings质控图以平均值±3S为 ( )A、警告限B、失控限C、在控限D、误差限E、以上均都不是

考题 质控图至少应包括( )A、上控制界限B、下控制界限C、中心线D、允许误差限E、允许不精密度限

考题 S图的上、下控制限是( )。 A.B.C.D.

考题 S图的下控制限( )。A.有时等于0B.恒等于0C.不能等于0D.等于X-A2S

考题 试分析图题4-17所示电路在S、So 信号控制下,其输入A、B与输出Y之间的关系。

考题 试设计一个电灯控制器, 当按钮A按下后(低电平有效),电灯亮10s后灭(计数到10s信号高电平有效)。(提示:该控制器框图可参考图题6-46)。

考题 A工厂生产某种特种设备的主轴,技术要求为50 ±0.1mm。现每次抽检5件,共抽检了25批,决定用-s控制图进行分析。查表得子组n=5时,A1= 1.342,A2=0.577,A3= 1.427,B3 =0,B4 =2.089。则: 图的上、下控制限是( )。

考题 欲利用控制图监控铸件上的砂眼数,适宜采用的控制图为( )。[2010年真题] A. -R图 B. P图 C. c图 D. X- Rs 图

考题 某-s控制图中,图的中心线、上控制线、下控制线分别为15.033、16.536和 13.530;s图的中心线为1.006,上控制线为2.211,无下控制线。则该控制图每组的样本数是( )。 A. 4 B. 5 C. 6 D. 7

考题 -s图的绘图步骤包括( ),延长统计控制状态下的-s控制图的控制限,进入控制用控制图阶段,实现对过程的日常控制。 A.依据合理子组原则,取得预备数据 C.计算-s图的控制限,绘制控制图 D.与容差限比较,计算过程能力指数 E.检验过程能力指数是否满足技术要求

考题 A工厂生产某种特种设备的主轴,技术要求为50 ±0.1mm。现每次抽检5件,共抽检了25批,决定用-s控制图进行分析。查表得子组n=5时,A1= 1.342,A2=0.577,A3= 1.427,B3 =0,B4 =2.089。则: s图的上、下控制限是( )。 A. UCLs=0.0543 B. LCLs=0 C.无下控制线 LCLs D. UCLs=0.035

考题 Levey-Jennings质控图以±3s为A.警告限B.失控限C.在控限D.误差限E.系统误差限

考题 统计过程控制中可以用来识别异常因素的是( )。[2007年真题] A.控制限 B.公差限 C.中心线 D.样本量

考题 在零件长度的均值控制图上标有( )。[2007年真题] A.每个零件的长度值 B.中心线 C.上、下控制限 D.零件长度的公差限 E.零件子组的样本均值

考题 若过程处于统计控制状态,则控制图中的点子不超出上、下控制限的概率是( )。[2008年真题] A. 95. 4% B. 99. 0% C. 99. 73% D. 99. 90%

考题 单选题以下关于程序流程图、N-S盒图和决策表的叙述中,错误的是()。A N-S盒图可以避免随意的控制转移B N-S盒图可以同时表示程序逻辑和数据结构C 程序流程图中的控制流可以任意转向D 决策表适宜表示多重条件组合下的行为

考题 多选题在零件长度的均值控制图上标有(  )。[2007年真题]A每个零件的长度值B中心线C上、下控制限D零件长度的公差限E零件子组的样本均值

考题 单选题对于X-bar-R控制图,以下说法正确的是()A 先诊断X-bar图,再诊断R图;B R图代表组内的变异;C 数据分组的原则是组内差异最大化,组间差异最小化;D 在X-bar-R控制图中,为了更加直观有效,用规格限(公差限)代替控制限的效果更好。

考题 单选题在统计控制状态下,控制图上描点超出上、下控制限的概率约是(  )。[2007年真题]A 0.27%B 0.135%C 4.5%D 2.3%

考题 单选题统计过程控制中可以用来识别异常因素的是(  )。[2007年真题]A 控制限B 公差限C 中心线D 样本量

考题 填空题均数控制图中,上、下控制限按照()值绘制,上、下警告限按照()值绘制,上、下辅助线按照值绘制。

考题 单选题Levey-Jennings质控图以x±3S为()A 警告限B 失控限C 在控限D 误差限E 以上均都不是

考题 单选题Levey-Jennings质控图以平均值±3S为()A 警告限B 失控限C 在控限D 误差限E 以上均都不是

考题 多选题质控图至少应包括()A上控制界限B下控制界限C中心线D允许误差限E允许不精密度限

考题 单选题若过程处于统计控制状态,则控制图中的点子不超出上、下控制限的概率是(  )。[2008年真题]A 95.4%B 99.0%C 99.73%D 99.90%