考题
按控制方式不同,可将伺服系统分为:开环控制系统、闭环控制系统和()
A.电器伺服系统B.液压伺服系统C.位置控制系统D.半闭环控制系统
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。
A、全闭环B、半闭环C、开环
考题
按伺服系统的不同，数控伺服系统可分为：()A、开环控制系统B、闭环控制系统C、半闭环控制系统D、自锁控制系统
考题
机床按执行机构特点分类可分为：开环控制系统，闭环控制系统和（）。A、半闭环控制系统B、顺控系统C、直流伺服系统D、交流伺服系统
考题
伺服系统按控制方式上可以分为（）等。A、开环系统B、闭环系统C、循环系统D、半闭环系统
考题
开环、闭环和半闭环是按（）的不同分类的。A、机床的加工功能B、进给伺服系统类型C、NC装置的构成方式
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A、全闭环B、半闭环C、开环D、混合闭环
考题
（）可分为开环控制、半闭环控制和闭环控制。A、数控装置B、伺服系统C、测量反馈装置D、控制器
考题
加工中心伺服进给系统，当进给系统不安装位置检测器时，该系统成为（）方式。A、开环B、半闭环C、闭环D、封闭环
考题
（）的位置检测点直接对工作台的实际位置进行检测。A、开环数控系统B、半闭环数控机床进给伺服系统C、闭环进给伺服系统D、开环进给伺服系统
考题
伺服系统按照有无反馈来分类，可分为开环伺服系统、闭环伺服系统和（）A、闭环步进系统B、半闭环步进系统C、半闭环伺服系统D、主轴伺服系统
考题
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A、位置控制器B、检测单元C、伺服单元D、控制对象
考题
闭环进给伺服系统比开环进给伺服系统比多一个（）。
考题
开环进给伺服系统比闭环进给伺服系统多一个反馈装置。
考题
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统的主要区别在于（）。A、检测单元B、伺服单元C、位置控制器D、控制对象
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制A、全闭环B、半闭环C、开环D、传动链
考题
开环、闭环和半闭环的数控系统不同分类的依据是（）A、机床的加工功能B、进给伺服系统类型C、NC装置的构成方式D、机床的机械机构
考题
采用进给伺服系统的数控机床的精度最低（）。A、闭环控制B、开环控制C、半闭环控制D、点位控制
考题
开环、闭环和半闭环是按（）的不同分类的。A、机床的加工功能B、进给伺服系统类型C、NC装置的构成方式D、主轴系统的类型
考题
（）进给伺服系统不需要测量装置。A、开环B、半闭环C、全闭环D、以上都需要
考题
数控机床进给伺服系统的结构形式可分为开环和闭环。
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A
全闭环B
半闭环C
开环
考题
单选题开环、闭环和半闭环的数控系统不同分类的依据是（）A
机床的加工功能B
进给伺服系统类型C
NC装置的构成方式D
机床的机械机构
考题
单选题下列无极变速进给系统中，定位精度高的是（）。A
开环伺服系统B
半闭环伺服系统C
闭环伺服系统
考题
单选题采用进给伺服系统的数控机床的精度最低（）。A
闭环控制B
开环控制C
半闭环控制D
点位控制
考题
单选题开环、闭环和半闭环分类的依据是（）A
机床的加工功能B
进给伺服系统类型C
NC装置的构成方式D
机床的机械机构
考题
单选题开环、闭环和半闭环系统的分类依据是（）A
机床的加工功能B
进给伺服系统类型C
NC装置的构成方式D
经济性
考题
单选题开环、闭环和半闭环是按（）的不同分类的。A
机床的加工功能B
进给伺服系统类型C
NC装置的构成方式D
主轴系统的类型