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判断题
当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的衰减,便于发现远区缺陷。
A

B


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考题 一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加() 的声程,避免近场区探伤。A.一次波B.二次波C.表面波D.扫查波

考题 一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加一次波的声程,避免近场区探伤。

考题 选用越高的频率探测,有利于发现越大的缺陷,而且声衰减越小。

考题 工件厚度为16mm手弧焊时,既要保证焊接质量,又要便于坡口加工焊后变形小,故应选用()。A、V型B、U型C、双V型D、K型

考题 厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件,各自采用底波校正灵敏度(Φ2mm平底孔),在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷,则()A、两个缺陷当量相同B、衰减大的锻件中缺陷当量小C、衰减小的锻件中缺陷当量小D、不一定

考题 在探测厚度较大的工件时,选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减,便于发现远场区的缺陷。

考题 直探头垂直入射时发现工件150mm声程处一缺陷回波,比试块200m声程处φ2平底孔的孔波高10dB,求缺陷的当量平底孔直径。

考题 当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的(),便于发现远区缺陷。

考题 计算题:已知测距按声程校正,且每格代表钢中声程20mm,用K1.5探头探测厚50mm试件时,在1.0~3.2格处发现一缺陷,求缺陷的位置和大小。

考题 在探测厚度较小的工件时,选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程,避免近场区探伤。

考题 当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的衰减,便于发现远区缺陷。

考题 当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的(),便于发现远区缺陷。A、衰减B、扩散C、绕射D、反射

考题 一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加()的声程,避免近场区探伤。

考题 当工件厚度较大时,怎样便于发现远区缺陷?

考题 缺陷的形状对缺陷回波幅度有较大影响,当声程和直径都相等时,缺陷波高以()形为最高,()形次之,()形最低。

考题 问答题计算题:已知测距按声程校正,且每格代表钢中声程20mm,用K1.5探头探测厚50mm试件时,在1.0~3.2格处发现一缺陷,求缺陷的位置和大小。

考题 填空题一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加()的声程,避免近场区探伤。

考题 判断题在探测厚度较小的工件时,选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程,避免近场区探伤。A 对B 错

考题 单选题厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件,各自采用底波校正灵敏度(Φ2mm平底孔),在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷,则()A 两个缺陷当量相同B 衰减大的锻件中缺陷当量小C 衰减小的锻件中缺陷当量小D 不一定

考题 单选题厚度均为400mm,但材质衰减不同的两个锻件,采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测,现两个锻件中均发现缺陷,且回波高度和缺陷声程均相同,则:()A 两个缺陷当量相同B 材质衰减大的锻件中缺陷当量小C 材质衰减小的锻件中缺陷当量小D 以上都不对

考题 单选题当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的(),便于发现远区缺陷。A 衰减B 扩散C 绕射D 反射

考题 填空题缺陷的形状对缺陷回波幅度有较大影响,当声程和直径都相等时,缺陷波高以()形为最高,()形次之,()形最低。

考题 判断题在探测厚度较大的工件时,选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减,便于发现远场区的缺陷。A 对B 错

考题 判断题一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加一次波的声程,避免近场区探伤。A 对B 错

考题 问答题直探头垂直入射时发现工件150mm声程处一缺陷回波,比试块200m声程处φ2平底孔的孔波高10dB,求缺陷的当量平底孔直径。

考题 填空题当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的(),便于发现远区缺陷。

考题 问答题当工件厚度较大时,怎样便于发现远区缺陷?