网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)
判断题
在探测厚度较小的工件时,选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程,避免近场区探伤。
A

B


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
更多 “判断题在探测厚度较小的工件时,选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程,避免近场区探伤。A 对B 错” 相关考题
考题 一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加() 的声程,避免近场区探伤。A.一次波B.二次波C.表面波D.扫查波

考题 横波探头晶片尺寸一定时,K值与近场区长度的关系为()A、K值增大时,近场区长度不变B、K值增大时,近场区长度增大C、K值增大时,近场区长度减小D、K值与近场区长度无关

考题 一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加一次波的声程,避免近场区探伤。

考题 横波探头晶片尺寸一定,K值增大时,近场区长度减小。

考题 要尽量避免在()探伤定量。A、 声程大于6倍的近场区B、 近场区C、 声程大于3倍的近场区D、 以上都不对

考题 超声波探伤时要求探头主声束覆盖探测部位全长,探伤时探头移动快,主声束对探测部位的覆盖不全面,而且反射波不明显,容易漏探。

考题 在探测厚度较大的工件时,选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减,便于发现远场区的缺陷。

考题 一般工件厚度较小时,怎样避免近场区探伤?

考题 当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的(),便于发现远区缺陷。

考题 在探测厚度较小的工件时,选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程,避免近场区探伤。

考题 当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的衰减,便于发现远区缺陷。

考题 接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。

考题 用折射角45°的探头,一次波法探测厚度为100mm的试件,若有机玻璃斜楔中的声程为15mm,则最大测距相当钢中纵波声程()。

考题 当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的(),便于发现远区缺陷。A、衰减B、扩散C、绕射D、反射

考题 仪器测距声程为200mm,用0°探头探测厚度40mm底面倾斜较大的钢材时,其回波()。A、在刻度2出波B、在刻度4出波C、在刻度2和4出波D、接收不到

考题 一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加()的声程,避免近场区探伤。

考题 用2.5PK2.5探头探测厚度为16mm的工件,在距探测面8mm处发现一f4横孔,试求用二次波探测该孔时的声程是多少?()A、55mmB、25mmC、59mmD、22mm

考题 填空题一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加()的声程,避免近场区探伤。

考题 问答题一般工件厚度较小时,怎样避免近场区探伤?

考题 单选题当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的(),便于发现远区缺陷。A 衰减B 扩散C 绕射D 反射

考题 单选题横波探头晶片尺寸一定时,K值与近场区长度的关系为()A K值增大时,近场区长度不变B K值增大时,近场区长度增大C K值增大时,近场区长度减小D K值与近场区长度无关

考题 判断题在探测厚度较大的工件时,选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减,便于发现远场区的缺陷。A 对B 错

考题 判断题一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加一次波的声程,避免近场区探伤。A 对B 错

考题 填空题当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的(),便于发现远区缺陷。

考题 填空题用折射角45°的探头,一次波法探测厚度为100mm的试件,若有机玻璃斜楔中的声程为15mm,则最大测距相当钢中纵波声程()。

考题 判断题当工件厚度较大时,选用小K值,以减少声程过大引起的衰减,便于发现远区缺陷。A 对B 错

考题 单选题要尽量避免在()探伤定量。A 声程大于6倍的近场区B 近场区C 声程大于3倍的近场区D 以上都不对