考题
THDS-A探测系统中光子探头工作方式为（）A、直流探头B、调制探头C、热敏探头D、热释电探头
考题
下列温度中在THDS-A轴温探测系统中测温原理和其他几项不同的是（）A、靶温B、板温C、环境温度D、轴温
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变
考题
轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同可以划分为（）。A、光子探头B、热敏探头C、直流探头D、调制探头E、热释电探头
考题
THDS-A红外轴温探测系统中轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同划分为（）和（）
考题
THDS-A红外轴温探测系统探头按工作方式可划分为（）探头和直流探头。A、脉冲B、调制C、感应D、接触
考题
THDS-A探测系统中探头按测温元件不同划分为（）A、热敏探头和光子探头B、调制探头和光子探头C、热敏探头和直流探头D、调制探头和直流探头
考题
THDS-A探测系统中直流探头中测温元件为（）A、双浸没热敏电阻B、碲镉汞光子器件C、铂电阻D、普通电阻
考题
THDS-A探测系统中热敏探头工作方式为（）A、直流探头B、光子探头C、调制探头D、交流探头
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器温-100℃，且制冷电流正常，可能出现问题的部件中不可能有（）A、光子探头B、测温板C、热敏探头D、温控板
考题
THDS-A探测系统中调制探头中测温元件为（）A、双浸没热敏电阻B、碲镉汞光子器件C、铂电阻D、普通电阻
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A、测温板B、温控板C、调理板D、功放板
考题
轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同可以划分为（）A、热敏探头B、光子探头C、调制探头D、直流探头E、测温探头
考题
THDS-A探测系统中内探探头类型为（）A、热敏探头B、调制探头C、直流探头D、热释电探头
考题
（康拓）THDS-A系统中调制探头中测温元件为碲镉汞光子器件。
考题
单选题THDS-A探测系统中直流探头中测温元件为（）A
双浸没热敏电阻B
碲镉汞光子器件C
铂电阻D
普通电阻
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器温-100℃，且制冷电流正常，可能出现问题的部件中不可能有（）A
光子探头B
测温板C
热敏探头D
温控板
考题
多选题轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同可以划分为（）。A光子探头B热敏探头C直流探头D调制探头E热释电探头
考题
判断题（康拓）THDS-A系统中调制探头中测温元件为碲镉汞光子器件。A
对B
错
考题
单选题THDS-A探测系统中内探探头类型为（）A
热敏探头B
调制探头C
直流探头D
热释电探头
考题
多选题轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同可以划分为（）A热敏探头B光子探头C调制探头D直流探头E测温探头
考题
单选题THDS-A探测系统中探头按测温元件不同划分为（）A
热敏探头和光子探头B
调制探头和光子探头C
热敏探头和直流探头D
调制探头和直流探头
考题
填空题THDS-A红外轴温探测系统中轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同划分为（）和（）
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统探头按工作方式可分为（）探头和直流探头。A
脉冲B
调制C
感应D
接触
考题
单选题THDS-A探测系统中热敏探头工作方式为（）A
直流探头B
光子探头C
调制探头D
交流探头
考题
单选题THDS-A探测系统中光子探头工作方式为（）A
直流探头B
调制探头C
热敏探头D
热释电探头
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A
测温误差大B
测温良好C
测温稳定D
测温不变
考题
单选题THDS-A探测系统中调制探头中测温元件为（）A
双浸没热敏电阻B
碲镉汞光子器件C
铂电阻D
普通电阻