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以上关于底片灵敏度检查的叙述，哪一条是错误的（）
- A、底片上显示的象质计型号，规格应正确；
- B、底片上显示的象质计摆放应符合要求；
- C、如能清晰地看到长度不小于10MM的象质计钢丝影象，则可认为底片灵敏度达到该钢丝代表的象质指数；
- D、要求清晰显示钢丝影象的区域是指焊缝区域，热影响区和母材区域则无此要求。
参考答案
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考题
下列关于剩磁法检测的叙述，哪一条是错误的（）。A、切断磁化电流后施加磁悬液的方法叫做剩磁法B、高矫顽力材料制成的零件可以用剩磁法检测C、剩磁法一般采用干法检验D、剩磁法对近表面缺陷检出灵敏度低
考题
以下关于信息理论在射线照相方面的论述，哪一条是错误的（）A、所谓“噪声“即是底片的颗粒度B、信噪比是指缺陷影象对比度ΔD与噪声σD之比C、只要信噪比大于1，缺陷就能够识别D、信噪比越大，缺陷识别就越容易
考题
以下有关d′的叙述，哪一条是错误的（）A、d′值与df成正比B、d′值与L1、L2成反比C、d′小于缺陷宽度W时，底片上缺陷影象有本影，对比度根据缺陷形状进行修正D、d′大于缺陷宽度W时，底片上缺陷影象无本影，对比度急剧下降
考题
下面有关像质计的叙述中，正确的是（）A、线条型主要功用为显示照像灵敏度，而孔洞型功用为底片对比B、孔洞型主要功用为显示照像灵敏度，而线条型功用为底片对比C、线条型及孔洞型主要功用均为显示照像灵敏度D、线条型及孔洞型主要功用均为表示底片对比
考题
下面关于几何修正系数σ的叙述，哪一条是错误的？（）A、当缺陷尺寸小于射源尺寸时，才需要引入σ对底片对比度进行修正B、σ值越小，几何条件对底片对比度的影响越大C、为提高σ值而改变透照布置，常用的方法是增大焦距D、为提高底片对比度，应尽量采用σ1的透照布置
考题
以下关于底片黑度检查的叙述，哪一条是错误的（）A、焊缝和热影响区的黑度均应在标准规定的黑度范围内；B、测量最大黑度的测量点一般选在中心标记附近的热影响区；C、测量最小黑度的测量点一般选在搭接标记附近的焊缝上；D、每张底片黑度检查至少测量四点，取四次测量的平均值作为底片黑度值。
考题
单选题以下关于100%透检环缝的照透次数的要求，哪一条叙述不符合ASME规范的有关规定（）A
透照次数应按K≤1.1的要求通过公式计算求出；B
无K值要求，所选择的照透次数必须保证所得底片灵敏度满足有关规定；C
对双壁单影法，至少要求照透3次，双壁双影椭圆透照，至少应照透2次；D
A和C。
考题
单选题下面有关像质计的叙述中，正确的是（）A
线条型主要功用为显示照像灵敏度，而孔洞型功用为底片对比B
孔洞型主要功用为显示照像灵敏度，而线条型功用为底片对比C
线条型及孔洞型主要功用均为显示照像灵敏度D
线条型及孔洞型主要功用均为表示底片对比
考题
单选题下列关于剩磁法检测的叙述，哪一条是错误的（）。A
切断磁化电流后施加磁悬液的方法叫做剩磁法B
高矫顽力材料制成的零件可以用剩磁法检测C
剩磁法一般采用干法检验D
剩磁法对近表面缺陷检出灵敏度低
考题
单选题下面关于集合修正系数σ的叙述，哪一条是错误的？（）A
当缺陷尺寸小于射源尺寸时，才需要引入σ对底片对比度进行修正；B
σ值越小，几何条件对底片对比度的影响越大；C
为提高σ而改变透照布置，常用的方法是增大焦距；D
为提高底片对比度，应尽量采用σ1的透照布置。
考题
单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A
胶片粒度B
底片上缺陷影像的不清晰度C
底片上缺陷影像的对比度D
以上都是
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