考题
工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能
考题
采用大范围照明观察射线照片可以更好地识别细小缺陷影象
考题
工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰。
考题
由于射线照相存在影象放大现象，所以底片评定时，缺陷定量应考虑放大的影响。
考题
经射线探伤后胶片上出现的缺陷影象不包括（）。A、连续的黑色直线B、深色条纹C、一条淡色影象D、断续黑线
考题
在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）A、射源尺寸B、射源到缺陷的距离C、缺陷到胶片的距离D、缺陷相对于射源和胶片的位置和方向
考题
在射线照相中使用铅箔增感屏时，铅箔被射线激发出什么粒子使胶片加速感光？（）A、中子B、质子C、电子D、离子
考题
在射线照相中，使用铅箔增感屏时，铅箔被射线激发出电子使胶片加速感光
考题
在射线照片上未焊透缺陷的影象总是出现在焊缝的中心线上
考题
对尺寸很小的缺陷，其影象的对比度不仅与射线能量有关，而且与焦距有关。
考题
决定可检验的缺陷在射线透照方向的最小尺寸的是影象的（）
考题
若在底片较黑背景上出现较淡的B影象，则（）。A、说明焊缝中有缺陷B、应该重照C、不需重照D、根据电压高低来决定是否重照
考题
由于晶体缺陷使正常的晶格发生了扭曲，造成晶格畸变。晶格畸变使得金属能量上升，金属的强度、硬度和电阻减小。
考题
用X射线摄影时，欲使X胶片上；留下层次丰富的影象：（）A、管电压适当即可B、管电流适当即可C、投照时间适当即可D、以上三方面的因素均要适当
考题
在晶体中存在杂质时对扩散有重要的影响，主要是通过（），使得扩散系数增大。A、增加缺陷浓度B、使晶格发生畸变C、降低缺陷浓度D、A和B
考题
单选题在晶体中存在杂质时对扩散有重要的影响，主要是通过（），使得扩散系数增大。A
增加缺陷浓度B
使晶格发生畸变C
降低缺陷浓度D
A和B
考题
单选题工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A
影像重叠B
影像畸变C
影像放大D
以上都有可能
考题
判断题对尺寸很小的缺陷，其影象的对比度不仅与射线能量有关，而且与焦距有关。A
对B
错
考题
单选题在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）A
射源尺寸B
射源到缺陷的距离C
缺陷到胶片的距离D
缺陷相对于射源和胶片的位置和方向
考题
单选题由于晶体缺陷使正常的晶格发生了扭曲，造成晶格畸变。晶格畸变使得金属能量（），金属的强度、硬度和电阻减小。A
上升B
下降C
不变
考题
单选题在射线照相中，使缺陷影象发生畸变最重要的原因是（）A
射源尺寸；B
射源到缺陷的距离；C
缺陷到胶片的距离；D
缺陷相对于射源和胶片的位置和方向
考题
填空题决定可检验的缺陷在射线透照方向的最小尺寸的是影象的（）
考题
判断题由于晶体缺陷使正常的晶格发生了扭曲，造成晶格畸变。晶格畸变使得金属能量上升，金属的强度、硬度和电阻减小。A
对B
错
考题
判断题由于射线照相存在影象放大现象，所以底片评定时，缺陷定量应考虑放大的影响。A
对B
错
考题
判断题在射线照片上未焊透缺陷的影象总是出现在焊缝的中心线上A
对B
错
考题
判断题采用大范围照明观察射线照片可以更好地识别细小缺陷影象A
对B
错