考题
当射线方向垂直与缺陷方向时,最容易发现该缺陷。()
此题为判断题(对，错)。
考题
工件内部如有一扁平状缺陷,当它的平面法线与射线方向成什么角度时,在底片上的影像最清晰?()
A、成45°夹角时B、成180°夹角时C、成90°夹角时D、成60°夹角时
考题
射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
考题
工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能
考题
射线照相检测较适用于检测被检工件内部的面积型缺陷。
考题
缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。
考题
当射线中心束方向与裂纹开裂面成90°角时，最容易发现该裂纹。
考题
从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、底片成象颗粒度B、底片上缺陷图像不清晰度C、底片上缺陷图像对比度D、以上都是
考题
产品被检部位如有吸收射线、（）较少、底片上感光量增大，证明被检部位内部有缺陷。A、原子B、粒子C、光子D、分子
考题
从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是
考题
在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）A、射源尺寸B、射源到缺陷的距离C、缺陷到胶片的距离D、缺陷相对于射源和胶片的位置和方向
考题
工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A、垂直B、平行C、倾斜45°D、都可以
考题
射线探伤时，使用透度计的主要目的是（）A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量
考题
夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状
考题
工件磁化后表面缺陷形成的漏磁场（）A、与磁化电流的大小无关B、与磁化电流的大小有关C、当缺陷方向与磁化场方向之间的夹角为零时，漏磁场最大D、与工件的材料性质无关
考题
厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的影像清晰度差。
考题
（）对缺陷影像在射线底片上的显示对比度和清晰度有很大影响。
考题
当射线中心束方向与裂纹开裂面成45°角时，最容易发现该裂纹。（）
考题
当缺陷方向与磁力线方向（）时，缺陷显示最为清晰。A、垂直B、成45°夹角C、成60°夹角D、成水平方向
考题
单选题从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A
底片成象颗粒度B
底片上缺陷图像不清晰度C
底片上缺陷图像对比度D
以上都是
考题
单选题工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A
影像重叠B
影像畸变C
影像放大D
以上都有可能
考题
单选题工件内部如有一扁平状缺陷，当它的平面法线与射线方向成什么角度时，在底片上的影像最清晰？（）A
成45°夹角时B
成180°夹角时C
成90°夹角时D
成60°夹角时
考题
单选题在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）A
射源尺寸B
射源到缺陷的距离C
缺陷到胶片的距离D
缺陷相对于射源和胶片的位置和方向
考题
单选题工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A
垂直B
平行C
倾斜45°D
都可以
考题
填空题射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
考题
单选题当缺陷方向与磁力线方向（）时，缺陷显示最为清晰。A
垂直B
成45°夹角C
成60°夹角D
成水平方向
考题
单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A
胶片粒度B
底片上缺陷影像的不清晰度C
底片上缺陷影像的对比度D
以上都是