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问答题
在一束含有各种不同m/z值的离子，在一个具有固定狭缝位置和恒定点位的质谱仪中运动，磁场强度慢慢增大，首先用过狭缝的是m/z值最低还是最高的离子？为什么？

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考题 手工描迹Fe谱线可以校正（）位置。A、入射狭缝B、Fe元素出射狭缝C、所有狭缝
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考题 ARL4460光谱仪的入射狭缝宽度为（）μm。DV-6光谱仪的入射狭缝宽度为（）μm。
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考题 在磁场强度保持恒定，而加速电压逐渐增加的质谱仪中，最先通过固定的收集器狭缝的是（）。A、质荷比最低的正离子B、质量最高的负离子C、质荷比最高的正离子D、质量最低的负离子
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考题 在火花光谱仪上通过调整（）的值来改变分析通道的灵敏度。A、入射狭缝B、衰减器C、出射狭缝D、滤光片
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考题 描迹Fe谱线可以校正（）位置。A、入射狭缝B、Fe元素出射狭缝C、所有狭缝
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考题 在磁场强度保持恒定，而加速电压逐渐增加的质谱仪中，试样中哪一种离子首先通过固定的收集器狭缝？（）A、质荷比最高的正离子B、质荷比最低的正离子C、质量最大的正离子D、质量最小的正离子
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考题 某化合物在一个具有固定狭峰位置和恒定磁场强度B的质谱仪中分析，当加速电压V慢慢地增加时，则首先通过狭峰的是：（）A、质量最小的正离子B、质量最大的负离子C、质荷比最低的正离子D、质荷比最高的正离子
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考题 某化合物用一个具有固定狭缝位置和恒定加速电压V的质谱分析仪进行分析时，当磁场强度H慢慢增加时，首先通过狭缝的是（）。A、质荷比最高的正离子B、质荷比最低的正离子C、质量最大的正离子D、质量最小的正离子
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考题 为获得明显的单缝衍射图样，应（）A、增大光的波长和狭缝的宽度B、减小光的波长和狭缝的宽度C、增大光的波长，减小狭缝的宽度D、减小光的波长，增大狭缝的宽度
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考题 用波长为650nm之红色光作杨氏双缝干涉实验，已知狭缝相距10-4m从屏幕上量得相邻亮条纹间距为1cm，则狭缝到屏幕间距为（）m。
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考题 从一个远处光源发出的波长为589nm的光波入射到缝宽为1.0mm的狭缝上，在距狭缝2m远的屏上观察到最后的衍射图样。那么，在中间亮纹的任一侧两个暗纹之间的距离是：（）A、3.36mm；B、2.36mm；C、3.36nm；D、2.36nm .
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考题 在光栅实验中，光栅常数d=3μm，光栅上的狭缝宽度a=1μm，那么下列哪一极明条纹会在光栅衍射图样中缺少？（）A、第1极B、第2极C、第3极D、第4极
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考题 样品分子在质谱仪中发生的断裂过程，会形成具有单位正电荷而质荷比（m/z）不同的正离子，当其通过磁场时的动量如何随质荷比的不同而改变？其在磁场的偏转度如何随质荷比的不同而改变？
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考题 问答题样品分子在质谱仪中发生的断裂过程，会形成具有单位正电荷而质荷比（m/z）不同的正离子，当其通过磁场时的动量如何随质荷比的不同而改变？其在磁场的偏转度如何随质荷比的不同而改变？
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考题 单选题以波长为650nm的红光做双缝干涉实验，已知狭缝相距10-4m，从屏幕上测量到相邻两条纹的间距为1cm，则狭缝到屏幕之间的距离为（）m。A 2B 1.5C 1.8D 3.2
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考题 填空题用波长为650nm之红色光作杨氏双缝干涉实验，已知狭缝相距10-4m从屏幕上量得相邻亮条纹间距为1cm，则狭缝到屏幕间距为（）m。
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考题 单选题在质谱仪中当收集正离子的狭缝位置和加速电压固定时，若逐渐增加磁场强度H，对具有不同质荷比的正离子，其通过狭缝的顺序如何变化？（）A 从大到小B 从小到大C 无规律D 不变
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考题 单选题为获得明显的单缝衍射图样，应（）A 增大光的波长和狭缝的宽度B 减小光的波长和狭缝的宽度C 增大光的波长，减小狭缝的宽度D 减小光的波长，增大狭缝的宽度
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