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造成卷折伪影主要是因为（）

  • A、视场的范围超出被检物体
  • B、被检物体超出视场的范围
  • C、TR过大
  • D、TE过大
  • E、扫描时间过长

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考题 造成卷摺伪影主要是因为：()。A.视场的范围超出被检查的揭破部位。B.被检查的揭破部位超出视场的范围。C.TR过大。D.TE过大。E.扫描时间过长。
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考题 蒙片与造影片配准不良，会产生A.金属伪影 B.容积效应 C.卷折伪影 D.雪花噪声 E.运动性伪影
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考题 造成卷褶伪影主要是因为（）A、视场的范围超出被检物体B、被检物体超出视场的范围C、TR过大D、TE过大E、扫描时间过长
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考题 蒙片与造影片配准不良，会产生（）A、雪花噪声B、运动性伪影C、卷折伪影D、容积效应E、金属伪影
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考题 金属产生的伪影称（）A、运动伪影B、卷褶伪影C、化学位移伪影D、磁敏感性伪影E、截断伪影
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考题 多选题关于卷褶伪影的叙述，正确的是（）A卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致B卷褶伪影主要发生在频率编码方向上C变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影D施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影E增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率
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考题 单选题造成卷褶伪影主要是因为（）A 视场的范围超出被检物体B 被检物体超出视场的范围C TR过大D TE过大E 扫描时间过长
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考题 单选题蒙片与造影片配准不良，会产生（）A 雪花噪声B 运动性伪影C 卷折伪影D 容积效应E 金属伪影
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考题 单选题造成卷折伪影主要是因为（）A 视场的范围超出被检物体B 被检物体超出视场的范围C TR过大D TE过大E 扫描时间过长
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考题 单选题主要出现在频率编码方向的图像伪影是（）A 运动伪影B 磁敏感伪影C 截断伪影D 卷褶伪影E 化学位移伪影
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考题 单选题造成卷折伪影主要原因是（　　）。A TE过大B 视场的范围超出被检物体C TR过大D 被检物体超出视场的范围E 扫描时间过长
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