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像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件。


参考答案

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考题 按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分:射线检测》的规定,对于一次曝光完成多张胶片照相的情况,每张底片上都应有像质计影像。()

考题 阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是

考题 下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较

考题 像质计是判别射线照像质量和测定照像灵敏度的器件。

考题 像质计是用来鉴定()A、影像灵敏度B、影像黑度C、射线强度D、电流大小

考题 胶片射线照相时,象质计通常放在()A、增感屏和胶片之间B、胶片侧工件表面C、射源侧工件表面D、B和C都有可能

考题 像质剂是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。

考题 工业射线照相用的像质计大致有()A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是

考题 透度计用来指示()A、零件中缺陷的尺寸B、胶片密度C、胶片对比度D、射线照相底片的质量

考题 下面关于像质计的叙述中,正确的是()A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对

考题 像质计是用来表征对于某些人工缺陷(如圆孔、沟槽、金属丝)的发现难易程度,它又称作()A、像质计B、透度计C、以上都对

考题 像质计用来指示底片对比度

考题 以下有关对比试验的说法正确的是()A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对

考题 实验表明,胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响,要比对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多。

考题 射线源和胶片处于工件两面,透照时的像质计应如何放置?为什么?

考题 射线照相法是利用X、γ射线穿透工件,以()作为记录信息的无损检测方法。A、像质计B、胶片C、评定尺D、增感屏

考题 在下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是:()A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧,但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计

考题 当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别。

考题 当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在放射源侧情况的区别。()

考题 单选题透度计用来指示()A 零件中缺陷的尺寸B 胶片密度C 胶片对比度D 射线照相底片的质量

考题 单选题胶片射线照相时,象质计通常放在()A 增感屏和胶片之间B 胶片侧工件表面C 射源侧工件表面D B和C都有可能

考题 单选题像质计是用来表征对于某些人工缺陷(如圆孔、沟槽、金属丝)的发现难易程度,它又称作()A 像质计B 透度计C 以上都对

考题 单选题像质计是用来鉴定()A 影像灵敏度B 影像黑度C 射线强度D 电流大小

考题 单选题下面关于像质计的叙述中,正确的是()A 各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B 各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C 用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D 以上都不对

考题 单选题工业射线照相用的像质计大致有()A 金属丝型像质计B 孔型像质计C 槽型像质计D 以上都是

考题 单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A 阶梯孔型像质计更灵敏些B 丝型像质计更灵敏些C 两者灵敏性相同D 以上都不是

考题 单选题下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A 像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B 像质计形状与尺寸都是已知的C 像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D 像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较