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像质计是用来表征对于某些人工缺陷（如圆孔、沟槽、金属丝）的发现难易程度，它又称作（）

  • A、像质计
  • B、透度计
  • C、以上都对

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更多 “像质计是用来表征对于某些人工缺陷（如圆孔、沟槽、金属丝）的发现难易程度，它又称作（）A、像质计B、透度计C、以上都对” 相关考题
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考题 丝型的像质计金属丝应与焊缝方向垂直并横跨在非焊缝射线源一侧的表面上，细丝（）
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考题 射线底片的焊缝影象上应发现的像质计的金属丝的长度不得小于（）mm
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考题 下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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考题 线型像质计的金属丝直径序列，最广泛采用的是（）数列A、等比B、等差C、指数D、几何级数
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考题 以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
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考题 工业射线照相用的像质计大致有（）A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是
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考题 射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是（）A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是
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考题 为什么说像质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度？
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考题 透照时，摆放的像质计的最细金属丝应位于（）侧
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考题 像质计用来指示底片对比度
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考题 像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件。
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考题 实验表明，胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响，要比对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多。
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考题 常用的像质计是（）。A、 槽式像质计B、 线形像质计C、 孔形像质计D、 以上都是
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考题 常用的像质计是板式像质计。
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考题 制作金属丝型像质计的衬板或封套、框架，其材质的射线吸收系数应比金属丝的射线吸收系数（）。A、大B、小C、相同D、无所谓
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考题 用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度，（）。A、不一定是检出同尺寸裂纹的灵敏度B、就是检出同尺寸裂纹的灵敏度C、是检出同尺寸各种缺陷的灵敏度D、以上都不对
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考题 单选题工业射线照相用的像质计大致有（）A 金属丝型像质计B 孔型像质计C 槽型像质计D 以上都是
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考题 单选题射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是（）A 射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B 射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C 对所有像质计统一规定的像质指数D 以上都不是
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考题 单选题像质计是用来表征对于某些人工缺陷（如圆孔、沟槽、金属丝）的发现难易程度，它又称作（）A 像质计B 透度计C 以上都对
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考题 填空题射线底片的焊缝影象上应发现的像质计的金属丝的长度不得小于（）mm
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考题 判断题像质计用来指示底片对比度A 对B 错
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考题 单选题线型像质计的像质指数Z和金属丝直径d之间的关系是（）A d=106-2/10B d=10（6-2/）10C Z=10（6-d）/10D Z=106-d/10
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考题 单选题线型像质计的金属丝直径序列，最广泛采用的是（）数列A 等比B 等差C 指数D 几何级数
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考题 填空题丝型的像质计金属丝应与焊缝方向垂直并横跨在非焊缝射线源一侧的表面上，细丝（）
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考题 填空题透照时，摆放的像质计的最细金属丝应位于（）侧
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考题 单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A 像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B 像质计形状与尺寸都是已知的C 像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D 像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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