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对不同型式的像质计来说,只要采用相同的透照技术,像质计灵敏度的数值一般都相同。


参考答案

更多 “对不同型式的像质计来说,只要采用相同的透照技术,像质计灵敏度的数值一般都相同。” 相关考题
考题 阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是

考题 什么是使用像质计的局限性?()A、不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据B、不能比较两种不同透照技术的质量高低;C、不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示D、不能验证所用透照工艺的适当性

考题 采用换算的方法,可将某种材料制作的像质计用于不同吸收系数的材料透照时的像质评价。

考题 采用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度,但不一定能给出相同的裂纹检出灵敏度。

考题 以下有关放置像质计的说法正确的是()A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对

考题 像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可检出。

考题 最广泛使用的像质计型式主要是()A、丝型像质计B、阶梯孔型像质计C、平板孔型像质计D、以上都是

考题 有关像质计使用的说法正确的是()A、摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对

考题 工业射线照相用的像质计大致有()A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是

考题 射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是

考题 下面关于像质计的叙述中,正确的是()A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对

考题 透照时,摆放的像质计的最细金属丝应位于()侧

考题 像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。

考题 在下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是:()A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧,但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计

考题 常用的像质计是()。A、 槽式像质计B、 线形像质计C、 孔形像质计D、 以上都是

考题 常用的像质计是板式像质计。

考题 用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度,()。A、不一定是检出同尺寸裂纹的灵敏度B、就是检出同尺寸裂纹的灵敏度C、是检出同尺寸各种缺陷的灵敏度D、以上都不对

考题 平板孔型象质计的象质等级2-IT是指()A、象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1.4%B、象质计厚度为透照厚度1%,孔径为象质计厚度2倍,等效灵敏度为1.4%C、象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1%D、以上都不对

考题 判断题像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。A 对B 错

考题 单选题工业射线照相用的像质计大致有()A 金属丝型像质计B 孔型像质计C 槽型像质计D 以上都是

考题 判断题像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可检出。A 对B 错

考题 单选题射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A 射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B 射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C 对所有像质计统一规定的像质指数D 以上都不是

考题 单选题最广泛使用的像质计型式主要是()A 丝型像质计B 阶梯孔型像质计C 平板孔型像质计D 以上都是

考题 单选题常用的像质计是()。A 槽式像质计B 线形像质计C 孔形像质计D 以上都是

考题 单选题下面关于像质计的叙述中,正确的是()A 各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B 各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C 用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D 以上都不对

考题 单选题有关像质计使用的说法正确的是()A 摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B 采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C 当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D 以上都对

考题 单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A 阶梯孔型像质计更灵敏些B 丝型像质计更灵敏些C 两者灵敏性相同D 以上都不是