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常用的像质计是板式像质计。


参考答案

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考题 阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是

考题 使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片,其作用为()A、改善像质计影像B、降低电子发射C、模拟焊缝的补强高度D、增强影像

考题 下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较

考题 采用换算的方法,可将某种材料制作的像质计用于不同吸收系数的材料透照时的像质评价。

考题 以下有关放置像质计的说法正确的是()A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对

考题 最广泛使用的像质计型式主要是()A、丝型像质计B、阶梯孔型像质计C、平板孔型像质计D、以上都是

考题 工业射线照相用的像质计大致有()A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是

考题 射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是

考题 孔洞型像质计编号为20号,这表示()A、最小孔洞直径0.20英寸B、最小孔洞直径2.0mmC、像质计厚度0.20英寸D、像质计厚度0.020英寸

考题 像质计是用来表征对于某些人工缺陷(如圆孔、沟槽、金属丝)的发现难易程度,它又称作()A、像质计B、透度计C、以上都对

考题 像质计用来指示底片对比度

考题 以下有关对比试验的说法正确的是()A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对

考题 像质计的放置原则是什么?

考题 实验表明,胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响,要比对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多。

考题 对不同型式的像质计来说,只要采用相同的透照技术,像质计灵敏度的数值一般都相同。

考题 在下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是:()A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧,但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计

考题 常用的像质计是()。A、 槽式像质计B、 线形像质计C、 孔形像质计D、 以上都是

考题 当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别。

考题 当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在放射源侧情况的区别。()

考题 单选题孔洞型像质计编号为20号,这表示()A 最小孔洞直径0.20英寸B 最小孔洞直径2.0mmC 像质计厚度0.20英寸D 像质计厚度0.020英寸

考题 单选题最广泛使用的像质计型式主要是()A 丝型像质计B 阶梯孔型像质计C 平板孔型像质计D 以上都是

考题 单选题像质计是用来表征对于某些人工缺陷(如圆孔、沟槽、金属丝)的发现难易程度,它又称作()A 像质计B 透度计C 以上都对

考题 单选题常用的像质计是()。A 槽式像质计B 线形像质计C 孔形像质计D 以上都是

考题 单选题工业射线照相用的像质计大致有()A 金属丝型像质计B 孔型像质计C 槽型像质计D 以上都是

考题 单选题以下有关对比试验的说法正确的是()A 像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B 如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C 像质计应横跨焊缝放置D 以上都对

考题 单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A 阶梯孔型像质计更灵敏些B 丝型像质计更灵敏些C 两者灵敏性相同D 以上都不是

考题 单选题下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A 像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B 像质计形状与尺寸都是已知的C 像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D 像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较